专利名称: |
傅里叶变换光谱仪用全反射装置 |
摘要: |
一种傅里叶变换光谱仪用全反射装置,包括晶体盘组件、样品盘、压头组件、废料盘、ATR镜组,所述的晶体盘组件包括晶体、晶体固定盘、导轨滑块、丝杆和晶体盘电机,所述的晶体置于晶体固定盘的中央,所述的晶体固定盘跨设在导轨滑块上,所述的丝杆设在所述的晶体固定盘的一端,所述的丝杆在所述的电机的驱动下带动所述的晶体固定盘和所述的晶体在所述的导轨滑块上一起移动。本发明可实现样品在红外分析仪器上自动测试,操作简单方便,特别适用形状不规则、大小不规则的颗粒样品测试。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
荧飒光学科技(上海)有限公司 |
发明人: |
郑留念;李纪华;吴琼水 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-05-05T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-05T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910368141.1 |
公开号: |
CN109975213A |
代理机构: |
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) |
代理人: |
张宁展 |
分类号: |
G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
201802 上海市嘉定区嘉定工业区城北路1355号1幢7层718—2室 |
主权项: |
1.一种傅里叶变换光谱仪用全反射装置,包括晶体盘组件(1)、样品盘(2)、压头组件(3)、废料盘(4)、ATR镜组(5),其特征在于: 所述的晶体盘组件(1)包括晶体(101)、晶体固定盘(102)、导轨滑块(103)、丝杆(104)和晶体盘电机,所述的晶体(101)置于晶体固定盘(102)的中央,所述的晶体固定盘(102)跨设在导轨滑块(103)上,所述的丝杆(104)设在所述的晶体固定盘(102)的一端,所述的丝杆(104)在所述的晶体盘电机的驱动下带动所述的晶体固定盘(102)和所述的晶体(101)在所述的导轨滑块(103)上一起移动; 所述的压头组件(3)包括压头(301)、滑竿(302)、固定座(303)、螺杆(304)和压头组件电机,所述的压头(301)垂直向下,该压头(301)的上端通过连杆与所述的滑竿(302)的上端固定相连,所述的滑竿(302)的下端向下依次是所述的固定座(303)、螺杆(304)和压头组件电机连成一体; 所述的样品盘(2)和压头组件(3)置于晶体盘组件(1)的晶体(101)的正上方,所述的压头组件(3)的压头(301)置于所述的样品盘(2)之中,所述的废料盘(4)置于所述的晶体(101)的正下方,且位于ATR镜组(5)中部的空间; 将多个样品置于所述的样品盘(2)后,所述的压头组件(3)在压头组件电机的驱动下,自动下降,所述的压头(301)将样品压在所述的晶体盘组件(1)的晶体(101)上;所述的ATR镜组(5)将从傅里叶变换光谱仪发出的光束引入到晶体(101)上,透过晶体(101)的光带有样品的信号,通过ATR镜组(5)返回到光谱仪中分析;光谱仪分析完成后,在晶体盘电机的驱动下,所述的晶体盘组件(1)的晶体(101)和晶体固定盘(102)移动,此时样品自动掉落在所述的废料盘(4)中。 2.根据权利要求1所述的傅里叶变换光谱仪用全反射装置,其特征在于,所述的样品盘(2)呈底中有通孔的内凹的碗状结构。 3.根据权利要求1所述的傅里叶变换光谱仪用全反射装置,其特征在于,所述的废料盘(4)具有内凹形状。 4.根据权利要求1所述的傅里叶变换光谱仪用全反射装置,其特征在于,所述的ATR镜组(5)包括第一引光组件(501)和第二引光组件(502),所述的第一引光组件(501)沿傅里叶变换红外光谱仪的出射光(5010)方向依次是抛物镜(5011)和平面反射镜(5012)传输,聚焦到晶体(101)上,所述的第二引光组件(502)沿晶体(101)的透射光(5020)方向依次经抛物镜(5021)和平面反射镜(5022)返回所述的傅里叶变换红外光谱仪。 |
所属类别: |
发明专利 |