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原文传递 用于傅里叶变换光谱仪的衰减全反射装置
专利名称: 用于傅里叶变换光谱仪的衰减全反射装置
摘要: 一种用于傅里叶变换光谱仪的ATR装置,构成包括沿光路方向依次的第一平面反射镜、第一离轴抛物面反射镜、第二离轴抛物面反射镜、ATR晶体、第三离轴抛物面反射镜、第四离轴抛物面反射镜、第二平面反射镜、第三平面反射镜和第四平面反射镜。本发明利用离轴抛物面镜实现光束会聚和光斑大小控制、并通过双离轴抛物面镜相对于ATR晶体对称排布方式提高光谱仪输出光通量利用率,从而保障检测灵敏度和信噪比;本发明具有紧凑易集成特点,并适用于简单的批量生产。本发明在物理、化学、材料、地质、生物医学等领域具有广阔应用前景。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 上海;31
申请人: 荧飒光学科技(上海)有限公司
发明人: 不公告发明人
专利状态: 有效
申请日期: 2019-04-19T00:00:00+0800
发布日期: 2019-07-05T00:00:00+0800
申请号: CN201910315663.5
公开号: CN109975209A
代理机构: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人: 张宁展
分类号: G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 201802 上海市嘉定区嘉定工业区城北路1355号1幢7层718—2室
主权项: 1.一种用于傅里叶变换光谱仪的ATR装置,其特征在于:包括入射光匹配模块(1)、ATR反射模块(2)和出射光匹配模块(3);所述的入射光匹配模块(1)包含第一平面反射镜(M1)和第一离轴抛物面反射镜(PM2);所述的ATR反射模块(2)包含第二离轴抛物面反射镜(PM3),ATR晶体(ATR0)和第三离轴抛物面反射镜(PM4);所述的出射光匹配模块(3)包含第四离轴抛物面反射镜(PM5),第二平面反射镜(M6)、第三平面反射镜(M7)和第四平面反射镜(M8),沿光路方向依次是所述的第一平面反射镜(M1)、第一离轴抛物面反射镜(PM2)、第二离轴抛物面反射镜(PM3)、ATR晶体(ATR0)、第三离轴抛物面反射镜(PM4)、第四离轴抛物面反射镜(PM5)、第二平面反射镜(M6)、第三平面反射镜(M7)和第四平面反射镜(M8)。 2.根据权利要求1所述的用于傅里叶变换光谱仪的ATR装置,其特征在于:所述的ATR晶体(ATR0)由金刚石、ZnSe或Ge材料制成,具有三棱柱形状,其水平面为样品测试面,测试时,测试样品将置于该水平面上,两个侧面分别与所述的第二离轴抛物面反射镜和第二离轴抛物面反射镜相对。
所属类别: 发明专利
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