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原文传递鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法

专利名称：	鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法
摘要：	鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，过程如下：1)将鼓形滚子竖立于上传送带输送装置上，在鼓形滚子移动至第一CMOS面阵拍摄相机和第二CMOS面阵拍摄相机的下方时，分别完成对应的图像采集；2)鼓形滚子被传送到上传送带输送装置的末端后，由第一电磁铁将其吸住，继续传送，在鼓形滚子被传送到上传送带输送装置和下传送带输送装置的重叠区域后，第一电磁铁断电，第二电磁铁通电，鼓形滚子落入下传送带输送装置；3)鼓形滚子被下传送带输送装置传送到第三CMOS面阵拍摄相机和第四CMOS面阵拍摄相机的下方时，分别完成剩余的图像采集；4)整个检测过程均合格的，即为合格品。该方法可以用于检测各种尺寸形状鼓形滚子，检测时间短，检测效率高，检测精度高。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	新昌浙江工业大学科学技术研究院
发明人：	吕迅;袁巨龙;周见行;张万辉;权斌
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-05T00:00:00+0800
申请号：	CN201910231382.1
公开号：	CN109975316A
代理机构：	北京中济纬天专利代理有限公司
代理人：	陈振华
分类号：	G01N21/892(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	312500 浙江省绍兴市新昌县泰坦大道89号
主权项：	1.鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：实现该方法的检测装置包括水平设置的上传送带输送装置和下传送带输送装置；下传送带输送装置位于上传送带输送装置下方且下传送带输送装置的起始端与上传送带输送装置的末端呈部分重叠状设置；所述上传送带输送装置内部，在与下传送带输送装置重叠的区域，设有第一电磁铁；对应的，所述下传送带输送装置内部，在与上传送带输送装置重叠的区域，设有第二电磁铁；所述上传送带输送装置的上方设有装有平面拍摄镜头的第一CMOS面阵拍摄相机和装有环侧面展开镜头的第二CMOS面阵拍摄相机；所述下传送带输送装置的上方设有装有平面拍摄镜头的第三CMOS面阵拍摄相机和装有环侧面展开镜头的第四CMOS面阵拍摄相机；检测过程如下： 1)将鼓形滚子竖立于上传送带输送装置上，随上传送带输送装置移动，在鼓形滚子移动至第一CMOS面阵拍摄相机和第二CMOS面阵拍摄相机的下方时，分别完成对鼓形滚子上端面及其倒角面的图像采集和侧面上半部分的图像采集，并送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵，完成上半轮廓表面的检测； 2)鼓形滚子被传送到上传送带输送装置的末端后，第一电磁铁通电将其吸住，继续传送，在鼓形滚子被传送到上传送带输送装置的与下传送带输送装置重叠部分的下侧后，第一电磁铁断电，第二电磁铁通电，鼓形滚子落入下传送带输送装置，完成180度翻转，然后随下传送带输送装置移动； 3)鼓形滚子被下传送带输送装置传送到第三CMOS面阵拍摄相机和第四CMOS面阵拍摄相机的下方时，分别完成另一个端面及其倒角面的图像采集和另一半侧面的图像采集，并传送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵，完成另一半轮廓表面的检测； 4)整个检测过程均合格的，即为合格品。 2.根据权利要求1所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述上传送带输送装置的下表面和下传送带输送装置的表面材料为棉帆布、尼龙或PVC；所述上传送带输送装置的下表面和下传送带输送装置的上表面之间的距离为待检测鼓形滚子高度的1.2～1.5倍。 3.根据权利要求2所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述上传送带输送装置内部紧邻着第一电磁铁设有第三电磁铁，第三电磁铁的下方对应设有第一次品盒；过程1)检测结果为不合格时，在鼓形滚子被传送到上传送带输送装置与下传送带输送装置重叠部分的下侧后，第一电磁铁不断电，第二电磁铁不通电，第三电磁铁通电，鼓形滚子随第一传送带输送装置继续移动，到达第一次品盒上方后，第三电磁铁断电，使不合格的鼓形滚子落入第一次品盒内。 4.根据权利要求3所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述下传送带输送装置内部在传送末端位置设有第四电磁铁，第四电磁铁的下方对应设有第二次品盒；过程3)检测结果为不合格时，鼓形滚子传送至下传送带装置的末端后，第四电磁铁通电，将其吸住，继续传送，在鼓形滚子被传送到下传送带输送装置的末端下侧后，第四电磁铁断电，不合格的鼓形滚子落入第二次品盒。 5.根据权利要求2、3或4所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述上传送带输送装置和所述下传送带输送装置均为定速传动；所述下传送带输送装置的传送速度与所述上传送带输送装置的传送速度之和不超过10cm/s。 6.根据权利要求5所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述上传送带输送装置的输送带表面等间距一组用于放置鼓形滚子的定位标记槽；所述下传送带输送装置的传送速度为所述上传送带输送装置的传送速度的60～80％。 7.根据权利要求6所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述下传送带输送装置的传送速度4cm/s；所述上传送带输送装置的传送速度6cm/s。 8.根据权利要求1所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所有CMOS面阵拍摄相机均安装于可调节高度的支架上。 9.根据权利要求1所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述上传送带输送装置和/或所述下传送带输送装置的高度可调。 10.根据权利要求6-9任一权利要求所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：上传送带输送装置与下传送带输送装置重叠区域的长度为5～10cm；相邻两定位标记槽的间距为10～15cm。
所属类别：	发明专利