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原文传递 测量样品荧光特性的分光光度计及方法
专利名称: 测量样品荧光特性的分光光度计及方法
摘要: 本发明涉及一种测量样品荧光特性的分光光度计及方法,其特征是,包括:光源,用于发出所需之光谱;第一样品室,所述第一样品室用于放置待测样品,以所述光源发出的未经选择的光全部入射到第一样品室;单色器,单色器将光源的复合光或透过第一样品室的复合光分解为单色光并能够随意改变波长;第二样品室,用于放置待测样品,以所述单色器选择的全部波长的光入射至第二样品室;检测器,用于将透过待测样品的光信号转化为电信号,并将电信号放大;以及,显示与存储系统,用于将检测器放大的电信号通过仪表显示出来,并存储光信号。本发明解决荧光对透射光谱测量产生干扰的问题,同时得到待测样品的透射光谱和荧光光谱,并提高定量精确度。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 江苏;32
申请人: 无锡奥芬光电科技有限公司
发明人: 鲍亚盟
专利状态: 有效
申请日期: 2017-12-29T00:00:00+0800
发布日期: 2019-07-09T00:00:00+0800
申请号: CN201711486648.4
公开号: CN109991197A
代理机构: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)
代理人: 殷红梅;刘海
分类号: G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 214028 江苏省无锡市新吴区新洲路18路
主权项: 1.一种测量样品荧光特性的分光光度计,其特征是,包括: 光源(20),用于发出所需之光谱; 第一样品室(21),所述第一样品室(21)用于放置待测样品,以所述光源(20)发出的未经选择的光全部入射到第一样品室(21); 单色器(22),单色器(22)将光源(20)的复合光或透过第一样品室(21)的复合光分解为单色光并能够随意改变波长; 第二样品室(23),用于放置待测样品,以所述单色器(22)选择的全部波长的光入射至第二样品室(23); 检测器(24),用于将透过待测样品的光信号转化为电信号,并将电信号放大; 以及,显示与存储系统(25),用于将检测器(24)放大的电信号通过仪表显示出来,并存储光信号; 所述光源(20)、第一样品室(21)、单色器(22)、第二样品室(23)、检测器(24)和显示与存储系统(25)依光路顺次连接。 2.如权利要求1所述的测量样品荧光特性的分光光度计,其特征是:所述光源(20)为钨灯或氘灯。 3.如权利要求1所述的测量样品荧光特性的分光光度计,其特征是:所述单色器(22)为棱镜或光栅。 4.如权利要求1所述的测量样品荧光特性的分光光度计,其特征是:所述检测器(24)为光电管或光电倍增管。 5.一种测量样品荧光特性的方法,其特征是,包括以下步骤: (1)首先在第一样品室(21)、第二样品室(23)中均不放置样品,进行基线校正; (2)基线校正完成后,将待测样品放置在第一样品室(21)中,光源(20)发出的光未经选择全部入射到第一样品室(21)的待测样品中,部分波段的光被吸收;透过第一样品室(21)待测样品的透射光和待测样品可能发出的荧光或者磷光混合在一起,经单色器(22)分解成单色光照射到检测器(24)上,得到第一样品室(21)中待测样品的第一透射光谱(A); (3)将待测样品放置于第二样品室(23)中,光源(20)发出的全光谱光通过单色器(22)后变成单色光,单色光入射到第二样品室(23)的待测样品中,一些波段的单色光被吸收;透过第二样品室(23)待测样品的单色光和待测样品可能发出的荧光或者磷光叠加后照射到检测器(24)上,得到第二样品室(23)中待测样品的第二透射光谱(B)。 (4)分析第一透射光谱(A)、第二透射光谱(B)的光谱数据,两者相同,说明待测样品不具有荧光特性;如果两者数据在某一波段内存在差异,说明待测样品具有荧光特性;第一透射光谱(A)与第二透射光谱(B)之间的差值即近似为待测样品的荧光光谱。
所属类别: 发明专利
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