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原文传递一种曲面屏外观缺陷快速检测方法及系统

专利名称：	一种曲面屏外观缺陷快速检测方法及系统
摘要：	本发明公开了一种曲面屏外观缺陷快速检测方法及系统，具体步骤为：利用工业相机拍摄两侧设置有两个曲面侧光源的待测曲面屏得到第一图像；保持工业相机和待测曲面屏位置不变，利用工业相机拍摄径向设置有一个径向侧光源的待测曲面屏得到与第一图像相同规格的第二图像；提取第一图像的平面区域和第二图像的曲面区域拼接后得到无过曝区域的第三图像，以实现待测曲面屏外部缺陷的快速检测。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	武汉精立电子技术有限公司
发明人：	洪志坤;张胜森;欧昌东;郑增强
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-04T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-16T00:00:00+0800
申请号：	CN201910272520.0
公开号：	CN110018167A
代理机构：	武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	李佑宏
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
主权项：	1.一种曲面屏外观缺陷快速检测方法，其特征在于，具体步骤为： S1.利用工业相机拍摄两侧设置有两个曲面侧光源的待测曲面屏得到第一图像； S2.保持工业相机和待测曲面屏位置不变，利用工业相机拍摄径向设置有一个径向侧光源的待测曲面屏得到与第一图像相同规格的第二图像； S3.提取第一图像的平面区域和第二图像的曲面区域拼接后得到无过曝区域的第三图像，以实现待测曲面屏外部缺陷的快速检测。 2.根据权利要求1所述的一种曲面屏外观缺陷快速检测方法，其特征在于，所述工业相机的工作距离为：WD＝f(1+L/l)，其中，f为所述工业相机的镜头的焦距，L为曲面屏的长度，l为所述工业相机的芯片的长度。 3.根据权利要求1或2所述的一种曲面屏外观缺陷快速检测方法，其特征在于，所述曲面侧光源和径向侧光源为条形光源或线光源。 4.根据权利要求1-3中任一项所述的一种曲面屏外观缺陷快速检测方法，其特征在于，所述提取第一图像的平面区域具体为：获取第一图像的8bit灰阶图片，读取第一图像亮带对应的平均灰阶值和各像素点的灰阶值以确定剪切分割线，以剪切分割线为边界去除亮带部分得到第一图像的平面区域。 5.根据权利要求4所述的一种曲面屏外观缺陷快速检测方法，其特征在于，所述第二图像的曲面区域具体为：以剪切分割线去除第二图像中与第一图像的平面区域对应的部分得到第二图像的曲面部分。 6.一种曲面屏外观缺陷快速检测系统，该系统包括工业相机、两个曲面侧光源和一个径向侧光源，其中，两个曲面侧光源位于待测曲面屏的两侧，径向侧光源位于两个曲面侧光源的邻侧，其特征在于，检测步骤为：开启曲面侧光源并关闭径向侧光源，利用工业相机拍摄待测曲面屏得到第一图像；关闭曲面侧光源并开启径向侧光源，利用工业相机拍摄待测曲面屏得到与第一图像相同规格的第二图像；提取第一图像的平面区域和第二图像的曲面区域拼接后得到无过曝区域的第三图像，以实现待测曲面屏外部缺陷的快速检测。 7.根据权利要求6所述的一种曲面屏外观缺陷快速检测系统，其特征在于，所述工业相机的工作距离为：WD＝f(1+L/l)，其中，f为所述工业相机的镜头的焦距，L为曲面屏的长度，l为所述工业相机的芯片的长度。 8.根据权利要求6或7所述的一种曲面屏外观缺陷快速检测系统，其特征在于，所述曲面侧光源和径向侧光源为条形光源或线光源。 9.根据权利要求6-8中任一项所述的一种曲面屏外观缺陷快速检测系统，其特征在于，所述提取第一图像的平面区域具体为：获取第一图像的8bit灰阶图片，读取第一图像亮带对应的平均灰阶值和各像素点的灰阶值以确定剪切分割线，以剪切分割线为边界去除亮带部分得到第一图像的平面区域。 10.根据权利要求9所述的一种曲面屏外观缺陷快速检测系统，其特征在于，所述第二图像的曲面区域具体为：以剪切分割线去除第二图像中与第一图像的平面区域对应的部分得到第二图像的曲面部分。
所属类别：	发明专利