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原文传递半导体元件影像测试装置

专利名称：	半导体元件影像测试装置
摘要：	本发明是有关于一种半导体元件影像测试装置，包括有一测试头、一针测机以及至少一影像撷取卡，所述测试头包括有一测试载板及多个插设于测试载板的测试卡，所述针测机包括有一测试接口板、一与该测试接口板电连接的探针卡以及多个探针。其中，至少一影像撷取卡插设于至少一转接板上，至少一转接板包括一第一端部及一第二端部，第一端部电连接测试载板，第二端部电连接测试接口板，有效改善影像撷取卡的换装方式，提升信号传输时的测试带宽，同时具备灵活的系统配置，可配合产品不同的待测数量进行调整，取得最佳的测试效率。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	中国台湾;71
申请人：	京元电子股份有限公司
发明人：	蔡秉谚;宋柏宽
专利状态：	有效
申请日期：	2018-01-16T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201810040150.3
公开号：	CN110044914A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	任岩
分类号：	G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	中国台湾新竹市公道五路二段81号
主权项：	1.一种半导体元件影像测试装置，包括有：一测试头、一针测机、至少一影像撷取卡以及至少一转接板，该测试头包括有一测试载板及多个插设于该测试载板的测试卡，该针测机包括有一测试接口板、一与该测试接口板电连接的探针卡以及多个探针；其特征在于，该至少一影像撷取卡插设于至少一转接板上，该至少一转接板包括一第一端部及一第二端部，该第一端部电连接该测试载板，该第二端部电连接该测试接口板，有效改善影像撷取卡的换装方式，并提升信号传输时的测试带宽。 2.一种半导体元件影像测试装置，包括有：一测试头、一针测机、至少一影像撷取卡，该测试头包括有一测试载板及多个插设于该测试载板的测试卡，该针测机包括有一测试接口板、一与该测试接口板电连接的探针卡以及多个探针；其特征在于，至少一影像撷取卡包括一第一端部及一第二端部，该第一端部电连接该测试载板，该第二端部电连接该测试接口板，有效改善该影像撷取卡的换装方式，并提升信号传输时的测试带宽。 3.如权利要求1或2所述的半导体元件影像测试装置，其中，该第二端部以缆线连接该测试接口板或直接插设于该测试接口板上。 4.如权利要求1或2所述的半导体元件影像测试装置，其中，该测试接口板以弹簧插针塔电连接该探针卡。 5.一种半导体元件影像测试装置，包括有：一测试头、一针测机、至少一影像撷取卡以及至少一转接板，该测试头包括有一测试载板及多个插设于该测试载板的测试卡，该针测机包括有一探针卡及多个探针；其特征在于，该至少一影像撷取卡插设于该至少一转接板上，该至少一转接板包括一第一端部及一第二端部，该第一端部电连接该测试载板，该第二端部电连接该探针卡，有效改善该影像撷取卡的换装方式，并提升信号传输时的测试带宽。 6.一种半导体元件影像测试装置，包括有：一测试头、一针测机以及至少一影像撷取卡，该测试头包括有一测试载板及多个插设于该测试载板的测试卡，该针测机包括有一探针卡及多个探针；其特征在于，该至少一影像撷取卡包括一第一端部及一第二端部，该第一端部电连接该测试载板，该第二端部电连接该探针卡，有效改善该影像撷取卡的换装方式，并提升信号传输时的测试带宽。 7.如权利要求1、2、5或6所述的半导体元件影像测试装置，其中，该第一端部以缆线连接该测试载板或直接插设于该测试载板上。 8.如权利要求5或6所述的半导体元件影像测试装置，其中，该第二端部以缆线连接该探针卡或直接插设于该探针卡上。 9.如权利要求1、2、5或6所述的半导体元件影像测试装置，其中，该半导体元件影像测试装置还包括一光源供应装置。 10.如权利要求9所述的半导体元件影像测试装置，其中，该光源供应装置为LED光源供应装置或管径式光源供应装置。 11.如权利要求9所述的半导体元件影像测试装置，其中，该光源供应装置组设于该测试头上。 12.如权利要求9所述的半导体元件影像测试装置，其中，该光源供应装置组设于该针测机上。 13.如权利要求1、2、5或6所述的半导体元件影像测试装置，其中，该影像撷取卡使用行动产业处理器接口进行通信。 14.如权利要求1、2、5或6所述的半导体元件影像测试装置，其中，该影像撷取卡具有一逻辑处理芯片及一解调电路。 15.如权利要求1或2所述的半导体元件影像测试装置，其中，该影像撷取卡具有一逻辑处理芯片，该测试接口板具有一解调电路。 16.如权利要求1或2所述的半导体元件影像测试装置，其中，该影像撷取卡具有一解调电路，该测试接口板具有一逻辑处理芯片。 17.如权利要求5或6所述的半导体元件影像测试装置，其中，该影像撷取卡具有一逻辑处理芯片，该探针卡具有一解调电路。 18.如权利要求5或6所述的半导体元件影像测试装置，其中，该影像撷取卡具有一解调电路，该探针卡具有一逻辑处理芯片。
所属类别：	发明专利