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原文传递一种跨尺度广谱粒径堵漏配方粒度分析方法

专利名称：	一种跨尺度广谱粒径堵漏配方粒度分析方法
摘要：	本发明公开了一种跨尺度广谱粒径堵漏配方粒度分析方法，涉及钻井完井工程堵漏配方粒度分析领域，本发明步骤包括：对堵漏配方中堵漏材料进行尺寸分类，根据尺寸差异对各颗粒堵漏材料选用激光粒度分析法和成像粒度分析法分析法获取该材料的粒度分布，依据各颗粒堵漏材料的粒度区间和加量，加权求和获取堵漏配方的粒度分布。本发明解决跨越多个尺度范围堵漏配方粒度分布无法有效获取问题，可对跨越微米、毫米、厘米及以上尺度范围的广谱粒径堵漏配方进行粒度分析，从而有效评价堵漏配方封堵裂缝能力，为研究人员对堵漏配方优化提供参考。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	西南石油大学
发明人：	许成元;张敬逸;康毅力;游利军;闫霄鹏;姜超;周贺翔;杨斌;刘川
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-20T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201910418464.7
公开号：	CN110044782A
代理机构：	成都天汇致远知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	韩晓银
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	610500 四川省成都市新都区新都大道8号
主权项：	1.一种跨尺度广谱粒径堵漏配方粒度分析方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：对堵漏配方中每一种颗粒堵漏材料分别根据其尺寸进行分级归类，如微米级、毫米级和厘米级；步骤2：通过粒度分析法获取每一种颗粒堵漏材料粒度分布和累积粒度分布，具体粒度分析方法选取原则如下：根据堵漏材料的尺寸差异，采用激光粒度分析法对微米级堵漏材料进行粒度分析，采用成像粒度分析法对毫米级、厘米级及以上堵漏材料进行粒度分析；步骤3：计算堵漏配方粒度分布和累积粒度分布：通过步骤2获得的每一种粒堵漏材料的分布获取该颗粒堵漏材料在粒度区间i的频率以各颗粒堵漏材料加量为权重，通过公式(1)获得堵漏配方粒度分布，通过公式(2)获得堵漏配方累积粒度分布，具体计算公式如下：式中：i为粒度区间，n为颗粒堵漏材料种类数量，f(i)为堵漏配方在粒度区间i的分布频率，为第n种颗粒堵漏材料在粒度区间i的分布频率，x1，x2……xn为堵漏配方中第1、2……n种颗粒堵漏材料的体积比加量，c(i)为堵漏配方在粒度区间i的累积分布频率。步骤4：根据步骤3获得的堵漏配方粒度分布和累积粒度分布，画出堵漏配方粒度分布曲线。 2.根据权利要求1所述的一种跨尺度广谱粒径堵漏配方粒度分析方法，其特征在于，所述成像粒度分析法，包括以下步骤： S1：将实验样品分散平铺在与实验样品颜色对比度较高的纸张上，平铺时保证颗粒与颗粒之间分开，无相互接触，且颗粒样本数量不低于400个； S2：使用高清相机，对实验样品进行成像操作，成像时在材料旁放置有明显刻度的标准直尺； S3：利用软件对步骤S2所拍摄的图像进行图像去噪、图像增强、阈值选择、图像二值化、边缘检测等手段处理，根据最后获得的图片样本，得到样品的单个颗粒粒径； S4：得出每个颗粒粒径后，根据步骤3所得的图片统计出在每种粒径范围的颗粒数量，计算出每种粒径范围的颗粒数量占颗粒总数的百分比，从而得出该堵漏材料的粒度分布和累积粒度分布。
所属类别：	发明专利