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原文传递基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法及系统

专利名称：	基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法及系统
摘要：	本发明公开了基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法及系统，方法包括：S1、根据放射源运输容器的结构特征和材料特征，结合屏蔽要求，建立并优化放射源运输容器模型；S2、将多个标准放射源置于放射源运输容器内，基于放射源运输容器模型，建立放射源运输容器的γ模拟谱；S3、基于放射源运输容器的γ模拟谱，求解G(E)函数；S4、将放射源置于放射源运输容器内，通过探测器获取放射源运输容器的γ真实谱；S5、基于放射源运输容器的γ真实谱，通过G(E)函数计算得到放射源运输容器的γ剂量率。本发明所提供的方法及系统，能够准确测量放射源运输容器外部辐射水平。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	山西;14
申请人：	中国辐射防护研究院
发明人：	庄大杰;陈磊;刘红艳;王任泽;夏三强;王学新;张建岗;李国强;孙洪超;孙树堂;孟东原
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-16T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201910303514.7
公开号：	CN110057843A
代理机构：	北京天悦专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	田明;任晓航
分类号：	G01N23/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	030006 山西省太原市小店区学府街102号
主权项：	1.基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法，其特征在于，包括： S1、根据放射源运输容器的结构特征和材料特征，结合屏蔽要求，建立并优化放射源运输容器模型； S2、将多个标准放射源置于所述放射源运输容器内，基于所述放射源运输容器模型，建立所述放射源运输容器的γ模拟谱； S3、基于所述放射源运输容器的γ模拟谱，求解G(E)函数； S4、将放射源置于所述放射源运输容器内，通过探测器获取所述放射源运输容器的γ真实谱； S5、基于所述放射源运输容器的γ真实谱，通过所述G(E)函数计算得到所述放射源运输容器的γ剂量率。 2.根据权利要求1所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法，其特征在于，步骤S2包括： S21、将多个标准放射源置于所述放射源运输容器内，通过所述探测器获取所述多个标准放射源的γ测量能谱； S22、对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行能量刻度，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数； S23、对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行峰形参数刻度，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数； S24、基于所述放射源运输容器模型，结合所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数和峰形参数，通过蒙特卡罗方法模拟得到所述放射源运输容器的γ模拟谱。 3.根据权利要求2所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法，其特征在于，步骤S22包括：获取所述多个标准放射源的γ测量能谱中的各个能量γ射线对应的全能峰中心道址，获得所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度曲线，对各能量刻度曲线作最小二乘抛物线拟合，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数。 4.根据权利要求2所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法，其特征在于，步骤S23包括：根据所述多个标准放射源的γ测量能谱和选择的全能峰感兴趣区域，得到各全能峰的半高宽，根据各全能峰的半高宽计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数；各全能峰的半高宽为：其中，FWHM为半高宽，a、b为待求解系数，E为入射γ射线能量。 5.根据权利要求1所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法，其特征在于，步骤S3中，通过最小二乘法求解G(E)函数。 6.基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统，其特征在于，包括：模型建立模块，用于根据放射源运输容器的结构特征和材料特征，结合屏蔽要求，建立并优化放射源运输容器模型；模拟谱建立模块，用于将多个标准放射源置于所述放射源运输容器内，基于所述放射源运输容器模型，建立所述放射源运输容器的γ模拟谱；求解模块，用于基于所述放射源运输容器的γ模拟谱，求解G(E)函数；真实谱获取模块，用于将放射源置于所述放射源运输容器内，通过探测器获取所述放射源运输容器的γ真实谱；计算模块，用于基于所述放射源运输容器的γ真实谱，通过所述G(E)函数计算得到所述放射源运输容器的γ剂量率。 7.根据权利要求6所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统，其特征在于，所述模拟谱建立模块包括：获取子模块，用于将多个标准放射源置于所述探测器正前方，通过所述探测器获取所述多个标准放射源的γ测量能谱；第一计算子模块，用于对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行能量刻度，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数；第二计算子模块，用于对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行峰形参数刻度，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数；模拟子模块，用于基于所述放射源运输容器模型，结合所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数和峰形参数，通过蒙特卡罗方法模拟得到所述放射源运输容器的γ模拟谱。 8.根据权利要求7所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统，其特征在于，所述第一计算子模块用于：获取所述多个标准放射源的γ测量能谱中的各个能量γ射线对应的全能峰中心道址，获得所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度曲线，对各能量刻度曲线作最小二乘抛物线拟合，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数。 9.根据权利要求7所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统，其特征在于，所述第二计算子模块用于：根据所述多个标准放射源的γ测量能谱和选择的全能峰感兴趣区域，得到各全能峰的半高宽，根据各全能峰的半高宽计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数；各全能峰的半高宽为：其中，FWHM为半高宽，a、b为待求解系数，E为入射γ射线能量。 10.根据权利要求6所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统，其特征在于，所述求解模块通过最小二乘法求解G(E)函数。
所属类别：	发明专利