专利名称: |
基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法及系统 |
摘要: |
本发明公开了基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法及系统,方法包括:S1、根据放射源运输容器的结构特征和材料特征,结合屏蔽要求,建立并优化放射源运输容器模型;S2、将多个标准放射源置于放射源运输容器内,基于放射源运输容器模型,建立放射源运输容器的γ模拟谱;S3、基于放射源运输容器的γ模拟谱,求解G(E)函数;S4、将放射源置于放射源运输容器内,通过探测器获取放射源运输容器的γ真实谱;S5、基于放射源运输容器的γ真实谱,通过G(E)函数计算得到放射源运输容器的γ剂量率。本发明所提供的方法及系统,能够准确测量放射源运输容器外部辐射水平。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
山西;14 |
申请人: |
中国辐射防护研究院 |
发明人: |
庄大杰;陈磊;刘红艳;王任泽;夏三强;王学新;张建岗;李国强;孙洪超;孙树堂;孟东原 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-04-16T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-26T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910303514.7 |
公开号: |
CN110057843A |
代理机构: |
北京天悦专利代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
田明;任晓航 |
分类号: |
G01N23/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
030006 山西省太原市小店区学府街102号 |
主权项: |
1.基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法,其特征在于,包括: S1、根据放射源运输容器的结构特征和材料特征,结合屏蔽要求,建立并优化放射源运输容器模型; S2、将多个标准放射源置于所述放射源运输容器内,基于所述放射源运输容器模型,建立所述放射源运输容器的γ模拟谱; S3、基于所述放射源运输容器的γ模拟谱,求解G(E)函数; S4、将放射源置于所述放射源运输容器内,通过探测器获取所述放射源运输容器的γ真实谱; S5、基于所述放射源运输容器的γ真实谱,通过所述G(E)函数计算得到所述放射源运输容器的γ剂量率。 2.根据权利要求1所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法,其特征在于,步骤S2包括: S21、将多个标准放射源置于所述放射源运输容器内,通过所述探测器获取所述多个标准放射源的γ测量能谱; S22、对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行能量刻度,计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数; S23、对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行峰形参数刻度,计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数; S24、基于所述放射源运输容器模型,结合所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数和峰形参数,通过蒙特卡罗方法模拟得到所述放射源运输容器的γ模拟谱。 3.根据权利要求2所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法,其特征在于,步骤S22包括: 获取所述多个标准放射源的γ测量能谱中的各个能量γ射线对应的全能峰中心道址,获得所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度曲线,对各能量刻度曲线作最小二乘抛物线拟合,计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数。 4.根据权利要求2所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法,其特征在于,步骤S23包括: 根据所述多个标准放射源的γ测量能谱和选择的全能峰感兴趣区域,得到各全能峰的半高宽,根据各全能峰的半高宽计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数; 各全能峰的半高宽为: 其中,FWHM为半高宽,a、b为待求解系数,E为入射γ射线能量。 5.根据权利要求1所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法,其特征在于,步骤S3中,通过最小二乘法求解G(E)函数。 6.基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统,其特征在于,包括: 模型建立模块,用于根据放射源运输容器的结构特征和材料特征,结合屏蔽要求,建立并优化放射源运输容器模型; 模拟谱建立模块,用于将多个标准放射源置于所述放射源运输容器内,基于所述放射源运输容器模型,建立所述放射源运输容器的γ模拟谱; 求解模块,用于基于所述放射源运输容器的γ模拟谱,求解G(E)函数; 真实谱获取模块,用于将放射源置于所述放射源运输容器内,通过探测器获取所述放射源运输容器的γ真实谱; 计算模块,用于基于所述放射源运输容器的γ真实谱,通过所述G(E)函数计算得到所述放射源运输容器的γ剂量率。 7.根据权利要求6所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统,其特征在于,所述模拟谱建立模块包括: 获取子模块,用于将多个标准放射源置于所述探测器正前方,通过所述探测器获取所述多个标准放射源的γ测量能谱; 第一计算子模块,用于对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行能量刻度,计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数; 第二计算子模块,用于对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行峰形参数刻度,计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数; 模拟子模块,用于基于所述放射源运输容器模型,结合所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数和峰形参数,通过蒙特卡罗方法模拟得到所述放射源运输容器的γ模拟谱。 8.根据权利要求7所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统,其特征在于,所述第一计算子模块用于: 获取所述多个标准放射源的γ测量能谱中的各个能量γ射线对应的全能峰中心道址,获得所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度曲线,对各能量刻度曲线作最小二乘抛物线拟合,计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数。 9.根据权利要求7所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统,其特征在于,所述第二计算子模块用于: 根据所述多个标准放射源的γ测量能谱和选择的全能峰感兴趣区域,得到各全能峰的半高宽,根据各全能峰的半高宽计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数; 各全能峰的半高宽为: 其中,FWHM为半高宽,a、b为待求解系数,E为入射γ射线能量。 10.根据权利要求6所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统,其特征在于,所述求解模块通过最小二乘法求解G(E)函数。 |
所属类别: |
发明专利 |