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原文传递基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法

专利名称：	基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法
摘要：	本发明公开了一种基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法，该方法包括：在磁场垂直和平行样品表面两种情况下，利用太赫兹频段内的电磁波对样品进行测试，得到在210K、105K和30K情况下镧钙锰氧随磁场变化的时域太赫兹透射光谱；记录相应温度和磁场下的太赫兹峰值。画出不同温度下太赫兹峰值随磁场的变化关系，由此用光学方法得出在不同温度下样品与磁场配置不同方向的镧钙锰氧具有各向异性。太赫兹频段的电磁波穿透性强，无接触，不需制备电极，操作简单，对待测样品无破坏性，检测镧钙锰氧样品各向异性效果更好。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	河南;41
申请人：	黄淮学院
发明人：	梅红樱;苏付海;张朋;姚汝贤;陈富军
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-06T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201910371408.2
公开号：	CN110057775A
代理机构：	郑州浩翔专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	边延松
分类号：	G01N21/3581(2014.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	463000 河南省驻马店市驿城区开源路6号
主权项：	1.一种基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法，其特征在于，包括下列步骤：（1）设置待测样品位置，使样品台的磁场垂直样品表面，利用太赫兹频段内的电磁波对样品进行测试，得到镧钙锰氧在210K、105K和30K情况下镧钙锰氧随磁场变化的时域太赫兹透射光谱；记录相应温度和磁场下的太赫兹峰值；（2）调整待测样品的位置，使样品台的磁场平行样品表面，利用太赫兹频段内的电磁波对样品进行测试，得到镧钙锰氧在210K、105K和30K情况下镧钙锰氧随磁场变化的时域太赫兹透射光谱；记录相应温度和磁场下的太赫兹峰值；（3）根据镧钙锰氧在不同温度下样品与磁场配置不同方向的镧钙锰氧太赫兹透射强度不同的特点，得出镧钙锰氧的各向异性性质。 2.根据权利要求1所述的基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法，其特征在于，使用的检测系统包括激光器、分束器、光学延迟装置、太赫兹发射器、太赫兹接收器、样品台、锁相放大器和PC端；所述太赫兹发射器，用于以太赫兹频段的电磁波作为入射波扫描样品；所述激光器发射的脉冲激光首先经过分束器，所述分束器将激光分为两路，其中一路到达太赫兹发射器，产生太赫兹频段的电磁波，记为泵浦光，太赫兹发射器在泵浦光的作用下向样品台上的样品发射太赫兹频段的电磁波，所述电磁波透过样品到达太赫兹接收器；另一路到达光学延迟装置，记为探测光，探测光经过反射镜反射，最终到达太赫兹接收器，所述太赫兹接收器用于采集样品所透射的太赫兹频段的透射波，并获取所述透射波的透射光谱；所述锁相放大器用于采集并放大太赫兹信号；所述PC端用于控制光学延迟装置及读取锁相放大器的示数。 3.根据权利要求2所述的基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法，其特征在于，所述光学延迟装置包括光学导轨和导轨控制器，光机元件沿光学导轨移动，使太赫兹时域光谱系统中的泵浦光和探测光产生时间延迟；所述导轨控制器用于控制光机元件沿光学导轨的移动，调节探测光和泵浦光之间的光程差，即时间延迟，得到样品不同位置处的透射光谱。 4.根据权利要求3所述的基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法，其特征在于，所述光学延迟装置为150mm线性电动位移台，型号为NRT150；所述导轨控制器为三通道APT台式步进电机控制器，型号为BSC203，所述导轨控制器与所述PC端对应连接。 5.根据权利要求3所述的基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法，其特征在于，所述太赫兹接收器为电光检测装置，包括使所述探测光依次穿过的碲化锌晶体、四分之一波片、沃拉斯顿棱镜和平衡探测器，所述平衡探测器的输出端与所述锁相放大器对应连接。 6.根据权利要求3所述的基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法，其特征在于，所述样品台为超导磁体，型号为Oxford Spectromag SM4000，用于固定样品及改变样品室的磁场或者温度；所述样品台可调整的磁场范围为0-9T，温度为5-300K；所述样品台上待测样品的大小控制在3mm-8mm，厚度均匀。 7.根据权利要求3所述的基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法，其特征在于，所述分束器的适用波长为800nm，7：3分束；所述太赫兹发射器为LT-GaAs基底材料的太赫兹发射器。 8.根据权利要求3所述的基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法，其特征在于，所述激光器为飞秒振荡器。
所属类别：	发明专利