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原文传递处理装置、方法以及记录介质

专利名称：	处理装置、方法以及记录介质
摘要：	本发明提供处理装置、方法以及记录介质。处理装置具备：算出部(220)，其基于检测一致的X射线照射所得的强度分布来算出在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据的扩充率；和第1功能生成部(230)，其基于扩充率来生成将在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据向外侧的单位区域分配的分配功能。如此，通过使得能基于进行一致的X射线照射时的强度分布进行外周补正，能补正外周的强度分布的失真。其结果能扩大X射线强度数据的检测区域。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	株式会社理学
发明人：	作村拓人;中江保一;松下一之
专利状态：	有效
申请日期：	2018-10-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-04-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201811193575.4
公开号：	CN109668918A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	薛凯
分类号：	G01N23/207(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	日本国东京都
主权项：	1.一种处理装置，能进行X射线强度数据的外周补正，其特征在于，具备：算出部，其基于检测一致的X射线照射所得的强度分布来算出在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据的扩充率；和第1功能生成部，其基于所述扩充率来生成所述将在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据向外侧的单位区域分配的分配功能。 2.根据权利要求1所述的处理装置，其特征在于，所述算出部使用在所述外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据相对于在内侧的单位区域检测到的X射线强度数据的比来算出所述扩充率。 3.根据权利要求2所述的处理装置，其特征在于，所述算出部使用在配置于内侧的特定范围的单位区域检测到的X射线强度数据的平均值，作为在所述内侧的单位区域检测到的X射线强度数据。 4.根据权利要求1～3中任一项所述的处理装置，其特征在于，所述处理装置还具备：第2功能生成部，其对用所述分配功能补正检测到所述一致的X射线照射的强度分布而得到的强度分布生成一致性补正功能。 5.根据权利要求1～3中任一项所述的处理装置，其特征在于，所述处理装置还具备：补正部，其使用所述分配功能对通过测定而检测到的强度分布进行外周补正。 6.根据权利要求5所述的处理装置，其特征在于，所述补正部赋予随机性，来分配在所述外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据。 7.根据权利要求5所述的处理装置，其特征在于，所述补正部使用一致性补正功能对进行过所述外周补正的强度分布进行一致性补正。 8.根据权利要求5所述的处理装置，其特征在于，通过所述测定而检测到的强度分布是在单晶的衍射测定中得到的数据。 9.一种方法，能进行X射线强度数据的外周补正，其特征在于，包括如下步骤：基于检测一致的X射线照射所得的强度分布来算出在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据的扩充率；基于所述扩充率来生成将在所述外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据向外侧的单位区域分配的分配功能。 10.一种记录介质，是记录能进行X射线强度数据的外周补正的程序的计算机可读且非临时的记录介质，其特征在于，所述控制程序使计算机执行如下处理：基于检测一致的X射线照射所得的强度分布来算出在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据的扩充率；基于所述扩充率来生成所述将在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据向外侧的单位区域分配的分配功能。
所属类别：	发明专利