专利名称: |
测定电子光箔中铅含量的方法 |
摘要: |
本发明公开了测定电子光箔中铅含量的方法。该方法包括:将待测电子光箔浸没至水中;利用电位滴定仪向水中提供碱液,在预设温度和预设pH值下,使所述待测电子光箔中的铝和铅溶出至水中;以溶出有铝和铅的水作为试样向电感耦合等离子体质谱仪(ICP‑MS)进行多次进样,以便获得所述试样中铝元素浓度和铅元素浓度;根据所述试样中所述铝元素浓度获得所述待测电子光箔已溶解的厚度;根据所述试样中所述铝元素浓度和所述铅元素浓度获得所述待测电子光箔在厚度方向上的铅含量分布。该方法操作简便、检测快速,且可以测定得到电子光箔表面多个深度位置的铅元素浓度数据,进而获得更为准确的电子光箔铅元素分布细节。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
东莞东阳光科研发有限公司 |
发明人: |
李锡汉;靳利娜;蔡君瑶;赵威威;董煌成;梁初军 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T14:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T00:00:00+0805 |
申请号: |
CN202010035878.4 |
公开号: |
CN111077267A |
代理机构: |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
肖阳 |
分类号: |
G01N31/16;G01N27/62;G01N1/28;G;G01;G01N;G01N31;G01N27;G01N1;G01N31/16;G01N27/62;G01N1/28 |
申请人地址: |
523871 广东省东莞市长安镇振安中路368号 |
主权项: |
1.一种测定电子光箔中铅含量的方法,其特征在于,包括: 将待测电子光箔浸没至水中; 利用电位滴定仪向水中提供碱液,在预设温度和预设pH值下,使所述待测电子光箔中的铝和铅溶出至水中; 以溶出有铝和铅的水作为试样向电感耦合等离子体质谱仪进行多次进样,以便获得所述试样中铝元素浓度和铅元素浓度; 根据所述试样中所述铝元素浓度获得所述待测电子光箔已溶解的厚度; 根据所述试样中所述铝元素浓度和所述铅元素浓度获得所述待测电子光箔在厚度方向上的铅含量分布。 2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测电子光箔呈环形。 3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述碱液为氢氧化钠溶液或氢氧化钾溶液; 任选地,所述碱液的浓度为0.5~1.5mol/L。 4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设温度为75~95℃; 任选地,所述预设pH值为11.5~12.5。 5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电位滴定仪的滴定模式被设定为终点模式,延迟时间为5~8min。 6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电感耦合等离子体质谱仪的工作参数包括:碰撞池反应气体为氦气,流量为8~10mL/min。 7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电感耦合等离子体质谱仪所采用的调谐液中铝含量为100ppm,铅含量为1ppb。 8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电感耦合等离子体质谱仪的工作参数包括:铝cps小于200万,铅cps大于2万。 9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,按照式(I),根据所述试样中所述铝元素浓度获得所述待测电子光箔溶解的厚度, A=C*V/ρ/S (I) 式(I)中, A:待测电子光箔已溶解的厚度,单位是cm, C:试样中铝元素浓度,单位是g/g, V:溶液的体积,单位是mL, ρ:铝的密度, S:待测电子光箔的表面积,单位是cm2。 10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,按照式(II),根据所述试样中所述铝元素浓度和所述铅元素浓度获得所述待测电子光箔在厚度方向上的铅含量分布, B=dD/dC(II) 式(II)中, B:待测电子光箔在深度A处的铅元素浓度,单位是g/g, dD:试样中铅元素浓度的微分, dC:试样中铝元素浓度的微分。 |
所属类别: |
发明专利 |