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原文传递电子设备和信息处理方法

专利名称：	电子设备和信息处理方法
摘要：	本公开提供了一种电子设备。该电子设备包括用于形成待检测对象的形成组件，用于获得来自所述形成组件的待检测对象并对所述待检测对象进行检测的检测组件，以及用于获得来自所述检测组件的检测结果，并根据所述检测结果计算所述待检测对象的属性参数的处理组件。本公开还提供了一种信息处理方法。
专利类型：	发明专利
申请人：	联想(北京)有限公司
发明人：	黎定勇
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T12:00:00+0805
申请号：	CN201911424403.8
公开号：	CN111141778A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	吕朝蕙
分类号：	G01N25/04;G01S19/14;G;G01;G01N;G01S;G01N25;G01S19;G01N25/04;G01S19/14
申请人地址：	100085 北京市海淀区上地西路6号2幢2层201-H2-6
主权项：	1.一种电子设备，包括：形成组件，用于形成待检测对象；检测组件，用于获得来自所述形成组件的待检测对象，并对所述待检测对象进行检测，以获得检测结果；以及处理组件，用于获得来自所述检测组件的检测结果，并根据所述检测结果计算所述待检测对象的属性参数。 2.根据权利要求1所述的电子设备，还包括：遮蔽组件，形成容纳空间，用于使得从所述形成组件形成所述待检测对象到所述检测组件获得到所述待检测对象的过程中，所述待检测对象处于所述容纳空间中，其中，所述形成组件和所述检测组件位于所述容纳空间内。 3.根据权利要求1所述的电子设备，所述形成组件包括：分离部件，所述分离部件用于按照分离规则对原始对象进行分离，以形成待检测对象，其中，所述原始对象和所述待检测对象的属性参数相同；或者提取部件，从原始对象中提取待检测对象，其中，所述待检测对象和所述原始对象的属性参数不同；或者生成部件，对所述原始对象进行加工，以生成待检测对象，其中，所述原始对象和所述待检测对象的属性参数不同。 4.根据权利要求3所述的电子设备，其中，所述原始对象是对原生材料进行加热并加压后从特定管道中流出的，所述形成组件从所述特定管道中流出的原始对象中分离出待检测对象。 5.根据权利要求1所述的电子设备，所述形成组件包括：承载部件，用于承载原始对象；以及分离部件，用于依据分离规则，从所述原始对象中分离局部对象，以得到待检测对象，其中，所述检测组件获得来自所述形成组件的待检测对象包括：所述局部对象依靠自身重力进入所述检测组件。 6.根据权利要求1所述的电子设备，还包括：传输组件，用于将所述待检测对象从形成组件输出至检测组件，其中，所述传输组件包括下列中的一种：传送件，所述形成组件在传送件上形成所述待检测对象，经由所述传送件将所述待检测对象传送到所述检测组件上；或者抓放件，所述形成组件在承载组件上形成所述待检测对象，经由抓放件将所述待检测对象运送到所述检测组件上，或者推送件，所述形成组件在承载组件上形成所述待检测对象，经由所述推送件将所述待检测对象推出所述承载组件，并依靠所述待检测对象的自身重力掉落于所述检测组件上。 7.根据权利要求1所述的电子设备，其中，从所述形成组件形成所述待检测对象到所述检测组件获取到所述待检测对象之间的时间长度为基准时间长度，所述电子设备还包括处理装置，所述处理装置用于获取所述从所述形成组件形成所述待检测对象到所述检测组件获取到所述待检测对象之间的当前时间长度，并且将所述当前时间长度和所述基准时间长度进行比对而获得比对结果。 8.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述电子设备还包括：定位组件，用于获取所述形成组件形成待检测对象的地理位置信息，通信组件，用于向其他电子设备发送所述属性参数和所述地理位置信息。 9.一种信息处理的方法，包括：获取检测指令；基于所述检测指令，使得形成组件形成待检测对象；控制所述待检测对象从所述形成组件上转移到检测组件上，以由所述检测组件对所述待检测对象进行检测而获检测结果；以及根据所述检测结果计算所述待检测对象的属性参数。 10.根据权利要求8所述的方法，其中，从所述形成组件形成所述待检测对象到所述检测组件获得到所述待检测对象的过程中，所述待检测对象处于容纳空间中。
所属类别：	发明专利