详情

原文传递一种细胞内纳米银和银离子定量的测定方法

专利名称：	一种细胞内纳米银和银离子定量的测定方法
摘要：	本发明提供了一种细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，所述测定方法方法简单便捷，通过建立银离子的质量与银离子的荧光强度的回归方程，进一步对纳米银和银离子的各自的荧光强度的检测，结合回归方程计算得到银离子的浓度；再进行纳米银和银离子总浓度的确定，进而计算得到纳米银的浓度。该方法可实现在不破坏细胞的条件下，采用不同的荧光探针有效地将纳米银的信号与银离子的信号进行区分，同时通过建立银离子的回归方程，进而对细胞内的纳米银以及银离子进行定量测定，该方法检测速度快、检测灵敏度高，选择性强，对细胞菌体没有破坏，可实现对细胞的无损分析。
专利类型：	发明专利
申请人：	香港科技大学深圳研究院
发明人：	王文雄;颜能
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T07:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T15:00:00+0805
申请号：	CN202010013219.0
公开号：	CN111157501A
代理机构：	深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人：	黄志云
分类号：	G01N21/64;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64
申请人地址：	518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新技术产业园区南区粤兴一道9号香港科大深圳产学研大楼4楼416室
主权项：	1.一种细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，其特征在于，所述测定方法包括如下步骤：提供N组含有不同浓度银离子的第一细胞培养基，且N大于等于5；采用所述第一细胞培养基分别对细胞进行培养，收集胞内含有不同浓度银离子的细胞；采用银离子探针分别与所述含有不同浓度银离子的细胞进行孵化得到第一细胞，分别检测各所述第一细胞中银离子的荧光强度，并分别计算各所述第一细胞中银离子的质量；根据所述第一细胞中银离子的荧光强度与所述第一细胞中银离子的质量绘制标准曲线，获取回归方程；提供含有纳米银和银离子的第二细胞培养基，其中，所述纳米银为表面结合荧光探针的纳米银；采用所述第二细胞培养基培养待测细胞，收集培养得到的待测细胞，采用银离子探针与所述培养得到的待测细胞进行孵化得到第二细胞；分别检测所述第二细胞中纳米银的荧光强度和银离子的荧光强度；测定所述第二细胞中纳米银和银离子的总浓度；根据所述回归方程和所述第二细胞中银离子的荧光强度，分析得到所述第二细胞中银离子的质量并计算所述第二细胞中银离子的浓度；根据所述第二细胞中的纳米银和银离子的总浓度和所述第二细胞中银离子的浓度计算得到所述第二细胞中纳米银的浓度。 2.根据权利要求1所述的细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，其特征在于，采用所述第一细胞培养基分别对细胞进行培养的步骤中，所述培养的时间为24～26小时；和/或，采用银离子探针分别与所述含有不同浓度银离子的细胞进行孵化得到第一细胞的步骤中，所述孵化的时间为2～4小时；和/或，采用所述第二细胞培养基培养待测细胞的步骤中，所述培养的时间为24～26小时；和/或，采用银离子探针与所述培养得到的待测细胞进行孵化得到第二细胞的步骤中，所述孵化的时间为2～4小时。 3.根据权利要求1所述的细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，其特征在于，计算各所述第一细胞中银离子的质量的步骤之前，还包括将所述第一细胞进行第一预处理得到第一细胞液，其中，所述第一预处理包括如下步骤：将所述第一细胞进行破碎处理，再加入酸液进行消解处理得到第一细胞沉淀，在所述第一细胞沉淀加入溶液，混合得到第一细胞液；和/或，测定所述第二细胞中纳米银和银离子的总浓度的步骤之前，还包括将所述第二细胞进行第二预处理得到第二细胞液，其中，所述第二预处理包括如下步骤：将所述第二细胞进行破碎处理，再加入酸液进行消解处理得到第二细胞沉淀，在所述第二细胞沉淀加入溶液，混合得到第二细胞液。 4.根据权利要求3所述的细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，其特征在于，所述第一细胞液中，第一细胞的浓度为10000cell/mL；和/或，所述第二细胞液中，第二细胞的浓度为10000cell/mL。 5.根据权利要求1～4任一所述的细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，其特征在于，所述表面结合荧光探针的纳米银中，所述荧光探针选自AIE荧光探针。 6.根据权利要求5所述的细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，其特征在于，所述AIE荧光探针的浓度为0.8mg/L～1.0mg/L。 7.根据权利要求1～4任一所述的细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，其特征在于，所述银离子探针选自TEZ-TPE-1。 8.根据权利要求7所述的细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，其特征在于，所述TEZ-TPE-1的浓度为5μmol/L～10μmol/L。 9.根据权利要求1～4任一所述的细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，其特征在于，分别检测各所述第一细胞中银离子的荧光强度的步骤中，采用流式细胞仪进行检测；和/或，分别检测所述第二细胞中纳米银的荧光强度和银离子的荧光强度的步骤中，采用流式细胞仪分别检测所述第二细胞中纳米银的荧光强度和银离子的荧光强度；和/或，测定所述第二细胞中的纳米银和银离子的总浓度的步骤中，采用电感耦合等离子体质谱仪进行测定。 10.根据权利要求9所述的细胞内纳米银和银离子定量的测定方法，其特征在于，采用流式细胞仪分别检测所述第二细胞中纳米银的荧光强度和银离子的荧光强度的步骤中，所述第二细胞中纳米银的荧光强度采用PE作为检测的滤色镜，所述第二细胞中银离子的荧光强度采用Amcyan作为检测的滤色镜。
所属类别：	发明专利