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原文传递近红外光谱检测设备、检测方法以及分析方法

专利名称：	近红外光谱检测设备、检测方法以及分析方法
摘要：	本发明公开了一种近红外光谱检测设备，包括设于所述检测设备上的近红外光谱传感器，其特征在于，还包括加速度传感器和陀螺仪传感器，所述加速度传感器用于确定检测设备与被检测目标的角度和位置，并根据加速度传感器的数值变化，计算近红外光谱传感器与被检测目标的平面距离，即光程，所述陀螺仪传感器用于检测近红外光谱采集过程中检测设备位置状态的稳定性；本发明还公开了一种近红外光谱的检测方法和分析方法，本发明的检测扫描方法操作简单方便，适用于具备近红外光谱模块的移动智能终端的校准和预测过程，可提升实际检测正确性及确保得到正确的分析结果。
专利类型：	发明专利
申请人：	四川长虹电器股份有限公司
发明人：	徐华;刘浩;闫晓剑;刘杰;雷勇
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T13:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T15:00:00+0805
申请号：	CN202010033077.4
公开号：	CN111157489A
代理机构：	四川省成都市天策商标专利事务所
代理人：	张秀敏
分类号：	G01N21/359;G01N21/3563;G01N21/01;G01B21/02;G;G01;G01N;G01B;G01N21;G01B21;G01N21/359;G01N21/3563;G01N21/01;G01B21/02
申请人地址：	621000 四川省绵阳市高新区绵兴东路35号
主权项：	1.一种近红外光谱检测设备，包括设于所述检测设备上的近红外光谱传感器，其特征在于，还包括加速度传感器和陀螺仪传感器，所述加速度传感器用于确定检测设备与被检测目标的角度和位置，并根据加速度传感器的数值变化，计算近红外光谱传感器与被检测目标的平面距离，即光程，所述陀螺仪传感器用于检测近红外光谱采集过程中检测设备位置状态的稳定性。 2.根据权利要求1所述的近红外光谱检测设备，其特征在于，所述检测设备为智能移动终端。 3.一种近红外光谱的检测方法，其特征在于，采用如权利要求1或2所述的检测设备检测近红外光谱，包括以下步骤：步骤1、将检测设备与被检测目标紧贴平行放置，使近红外光谱传感器表面平行于被检测目标，记录此时检测设备的加速度传感器的X1，Y1，Z1值，该组值记录为检测设备初始参考位置，作为初始值，同时记录光谱传感器与被检测目标的垂直距离Pos为0；步骤2、固定检测设备远离设置近红外光谱传感器的一端，作为旋转轴，抬起检测设备设置近红外光谱传感器的一端，此时检测设备的变化，导致加速度传感器X1，Y1，Z1值的变化，同时根据加速度传感器相对于旋转轴位置的变化，根据X1，Y1，Z1计算出近红外光谱传感器与被检测目标的垂直距离Pos的距离；步骤3、当近红外光谱传感器与被检测目标的垂直距离Pos达到规定的近红外光谱检测设备光程要求时，固定检测设备设置近红外光谱传感器这一端，并作为旋转轴，抬起检测设备步骤2中固定的远离设置近红外光谱传感器的一端，直至X1，Y1，Z1等于初始值，此时的检测设备平行于被检测目标，检测设备与被检测目标之间的距离为检测设备推荐的光程；步骤4、启动近红外光谱传感器对近红外光谱进行扫描检测，并记录整个扫描检测过程中陀螺仪传感器X2,Y2,Z2值变化，当整个扫描检测过程，陀螺仪传感器X2，Y2，Z2值变化超过一定范围，则说明旋转过程中检测设备的位置状态稳定性不足，发生异常，直接认定检测失败，此时重复步骤1-步骤4重新检测。 4.一种近红外光谱的分析方法，其特征在于，包括校正过程和预测过程，其中，校正过程中首先收集代表性的作品，再利用如权利要求3所述的近红外光谱的检测方法扫描检测样本的光谱，并将所有样本的光谱建立校准模型库；预测过程中，首先利用如权利要求3所述的近红外光谱的检测方法扫描检测待测目标样品的光谱，然后与所述校准模型库进行检索匹配，得出最终预测结果。 5.根据权利要求4所述的近红外光谱的分析方法，其特征在于，所述校正过程对样品的扫描检测光程与预测过程中对待检测目标样品的扫描检测光程相同。 6.根据权利要求4或5所述的近红外光谱的分析方法，其特征在于，所述校正过程中，扫描检测样本的光谱后，根据需要使用有关标准分析方法进行测量，作为参考数据，同时通过化学计量学对光谱进行处理，并将其与参考数据关联，且将所有的数据存入校准模型库中。
所属类别：	发明专利