详情

原文传递一种缺陷复检系统及方法

专利名称：	一种缺陷复检系统及方法
摘要：	本发明公开了一种缺陷复检系统及方法，包括：AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2、AOI检测模块和复检模块；AOI检测线体控制模块LCS1用于控制AOI检测模块，并接收AOI检测结果；复检线体控制模块LCS2用于控制复检模块，并向复检模块发送触发指令；AOI检测模块，用于对面板进行缺陷检测，并将缺陷检测结果上传给线体控制模块LCS1；复检模块，用于从AOI检测线体控制模块LCS1获取缺陷检测结果，对所述缺陷检测结果进行复检；本发明根据上述复检系统，复检模块可以直接自动获取到AOI检测结果，提高了复检的工作效率。
专利类型：	发明专利
申请人：	武汉精立电子技术有限公司
发明人：	肖超
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T03:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN202010006785.9
公开号：	CN111208140A
分类号：	G01N21/88;G05B19/05;G;G01;G05;G01N;G05B;G01N21;G05B19;G01N21/88;G05B19/05
申请人地址：	430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
主权项：	1.一种缺陷复检系统，其特征在于，包括：AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2、AOI检测模块和复检模块；所述AOI检测线体控制模块LCS1用于控制AOI检测模块，并接收AOI检测结果；所述复检线体控制模块LCS2用于控制复检模块，并向复检模块发送触发指令；所述AOI检测模块，用于对面板进行缺陷检测，并将缺陷检测结果上传给线体控制模块LCS1；所述复检模块，用于从AOI检测线体控制模块LCS1获取缺陷检测结果，对所述缺陷检测结果进行复检。 2.如权利要求1所述的缺陷复检系统，其特征在于，还包括PLC控制模块，所述PLC控制模块分别与AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2相连接。 3.如权利要求2所述的缺陷复检系统，其特征在于，所述PLC控制模块向复检线体控制模块LCS2发送触发指令，所述LCS2接收到触发指令后将触发指令转发给复检模块，所述复检模块根据触发指令从LCS1获取所述缺陷检测结果。 4.如权利要求1所述的缺陷复检系统，其特征在于，所述触发命令为面板ID或者面板ID和工站号的组合，所述复检模块接收到所述触发命令后，根据所述触发命令从所述LCS1中获取对应面板的缺陷检测结果。 5.如权利要求1所述的缺陷复检系统，其特征在于，所述复检模块在获取缺陷检测结果之前，还包括通过初始化将复检模块与LCS1和LCS2连接。 6.如权利要求1所述的缺陷复检系统，其特征在于，所述复检模块还用于将复检的结果上传给复检线体控制模块LCS2，由所述复检线体控制模块LCS2将所述复检的结果上传给客户CIM系统。 7.如权利要求1所述的缺陷复检系统，其特征在于，所述复检模块包括可编辑的显示模块，复检后利用可编辑的显示模块对所述缺陷检测结果进行编辑，得到复检结果，并将所述复检结果通过显示模块上传。 8.如权利要求7所述的缺陷复检系统，其特征在于，所述获取到的缺陷检测结果按照缺陷类别在所述显示模块上分类显示。 9.如权利要求7所述的缺陷复检系统，其特征在于，所述显示模块还包括缺陷展现模块，所述缺陷展现模块根据在所述缺陷检测结果中选中的缺陷在模拟面板上展现相应的形态以及相应的位置信息。 10.一种利用如权利要求1-9任意一项所述的缺陷复检系统进行缺陷复检的方法，其特征在于： AOI检测模块向AOI检测线体控制模块LCS1上传缺陷检测结果，复检模块接收到复检线体控制模块LCS2的触发命令后，根据触发命令从AOI检测线体控制模块LCS1获取对应的面板缺陷检测结果，复检模块对所述缺陷检测结果进行复检，并将复检结果上传。
所属类别：	发明专利