专利名称: |
反射光谱监测装置和方法 |
摘要: |
本申请提供一种反射光谱监测装置和方法,装置包括:光源,用于发射不同波段的探测光束;旋转台,用于放置待测样品,并带动所述待测样品按照预设转速进行转动;其中,所述旋转台转动时,在所述旋转台的每个旋转周期内,所述探测光束照射在所述待测样品上;光谱仪,用于接收所述待测样品在所述探测光束照射下的反射光束,并根据所述反射光束确定所述待测样品的反射光谱。本申请实现了实时检测待测样品的反射光谱。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
度亘激光技术(苏州)有限公司 |
发明人: |
赵勇明;杨国文;张艳春;王刚;祁鲁汉;赵卫东 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T03:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T00:00:00+0805 |
申请号: |
CN202010138969.0 |
公开号: |
CN111208063A |
代理机构: |
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) |
代理人: |
唐菲 |
分类号: |
G01N21/01;G01N21/27;G01N21/552;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/27;G01N21/552 |
申请人地址: |
215000 江苏省苏州市工业园区苏州金鸡湖大道99号西北区20幢215、217室 |
主权项: |
1.一种反射光谱监测装置,其特征在于,包括: 光源,用于发射不同波段的探测光束; 旋转台,用于放置待测样品,并带动所述待测样品按照预设转速进行转动; 光谱仪,用于接收所述待测样品在所述探测光束照射下的反射光束,并根据所述反射光束确定所述待测样品的反射光谱; 其中,所述旋转台转动时,在所述旋转台的每个旋转周期内,所述探测光束照射在所述待测样品上。 2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述光谱仪包括: 光接收探头,用于接收所述待测样品在所述探测光束照射下的所述反射光束;以及 处理器,连接所述光接收探头,用于根据所述反射光束,生成所述待测样品的的反射光谱。 3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述光源为白光光源。 4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述光源为卤素灯。 5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述探测光束的波长范围为400纳米~1100纳米。 6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括: 光束准直器,设置在所述光源的发射端,用于准直所述探测光束。 7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述光束准直器为半透镜。 8.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括: 腔室,具有窗口,并设置在所述旋转台上,用以放置所述待测样品,以及使所述待测样品在所述腔室内进行制程反应; 其中,在所述旋转台的每个旋转周期内,所述探测光束通过所述窗口后,入射至所述腔室内,并照射在所述待测样品上。 9.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括: 驱动电机,连接所述旋转台,用于驱动所述旋转台转动。 10.一种反射光谱监测方法,其特征在于,包括: 放置待测样品在旋转台上的反应腔内,使所述待测样品在所述反应腔内进行相应的制程反应; 在所述旋转台转动时,采用光源发射不同波段的探测光束; 在所述旋转台的每个旋转周期内,采用所述探测光束照射在所述待测样品上; 藉由光谱仪接收所述待测样品在所述探测光束照射下的反射光束,并根据所述反射光束确定所述待测样品的反射光谱。 |
所属类别: |
发明专利 |