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原文传递一种快速响应的高精度光散射浊度计测量装置

专利名称：	一种快速响应的高精度光散射浊度计测量装置
摘要：	本发明提供一种快速响应的高精度光散射浊度计测量装置，其中，包括柔性腔体、覆盖在柔性腔体内壁上的遮光膜层、设置在柔性腔体顶部的支撑结构、设置在柔性腔体底部的通气孔、设置在柔性腔体底部的支撑板、设置在柔性腔体支撑板上的光散射浊度计。测量开始时，通过通气孔排空腔体内的空气，之后注入待测气溶胶，利用光散射浊度计测量所述气溶胶的粒子特征。由于在密闭腔体内测量，测量粒径范围较广，并且相对于难以抽气的刚性腔体来说，柔性腔体可以利体积的变化排空空气，降低了腔体加工成本，节省了大量的气体，同时换气的速度得到加快，提高了测量效率。另外柔性体积扩大便捷，大体积减小了腔体壁的漫散射，有利于提高测量的信噪比。
专利类型：	发明专利
申请人：	合肥工业大学
发明人：	李建权;王杉杉;宋思陶;蔡懿卿;刘志健;闫佩正
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T05:00:00+0805
申请号：	CN201911381123.3
公开号：	CN111103217A
代理机构：	北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	余罡
分类号：	G01N15/00;G01N15/02;G01N21/51;G01N21/41;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N15;G01N21;G01N15/00;G01N15/02;G01N21/51;G01N21/41;G01N21/01
申请人地址：	230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号
主权项：	1.一种快速响应的高精度光散射浊度计测量装置，其特征在于，包括：柔性腔体、覆盖在所述柔性腔体内壁上的遮光膜层、设置在所述柔性腔体的顶部的支撑结构、设置在所述柔性腔体的底部的通气孔、设置在所述柔性腔体的底部的支撑板、设置在所述柔性腔体的支撑板上的光散射浊度计；测量开始时，通过所述通气孔排空所述柔性腔体内的空气，之后，向所述柔性腔体中注入待测气溶胶，利用所述光浊度计测量所述待测气溶胶的粒子特征。 2.根据权利要求1所述的快速响应的高精度光散射浊度计测量装置，其特征在于，还包括密封条；所述柔性腔体通过所述密封条与所述支撑板密封连接。 3.根据权利要求1所述的快速响应的高精度光散射浊度计测量装置，其特征在于，还包括支撑架；所述柔性腔体上还设置有多个可伸缩固定部；所述柔性腔体通过所述可伸缩固定部固定在所述支撑架上。 4.根据权利要求1所述的快速响应的高精度光散射浊度计测量装置，其特征在于，所述柔性腔体为塑料膜腔体。 5.根据权利要求1所述的快速响应的高精度光散射浊度计测量装置，其特征在于，所述遮光膜层为黑色遮光膜层。 6.根据权利要求1所述的快速响应的高精度光散射浊度计测量装置，其特征在于，所述光散射浊度计包括光源、第一偏振片、第一四分之一波片、至少三个光探测组件以及处理部件；所述光探测组件包括第二偏振片、第二四分之一波片、成像部件以及光探测部件；所述光源、第一偏振片与第一四分之一波片同光轴排列；所述第二偏振片与第二四分之一波片同光轴排列；所述至少三个光探测组件均匀分布在以目标物体为圆心形成的圆的圆弧上；所述成像部件位于所述第二偏振片的输出光路上，所述光探测部件沿所述成像部件的成像平面滑动设置；所述第一四分之一波片和第二四分之一波片可旋转设置；所述光探测部件与所述处理部件通信连接；所述光源发射的光线射入所述第一偏振片，并由所述第一偏振片射入第一四分之一波片，所述第一四分之一波片射出的光线照射目标物体；目标物体对所述第一四分之一波片射出的光线进行散射得到的散射光线射入所述至少三个光探测组件；所述散射光线依次经过所述第二四分之一波片、所述第二偏振片射入所述成像部件，并在所述成像部件上形成检测图像；所述光探测部件对所述检测图像进行扫描，得到检测数据，并将所述检测数据发送给所述处理部件；所述处理部件根据接收到的检测数据确定所述目标物体的粒子特征。 7.根据权利要求6所述的快速响应的高精度光散射浊度计测量装置，其特征在于，所述第一四分之一波片绕所述第一四分之一波片的光轴可旋转设置；所述第二四分之一波片旋转绕所述第二四分之一波片的光轴可旋转设置；所述第一四分之一波片和第二四分之一波片的旋转速度成预设比例设置。
所属类别：	发明专利