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原文传递一种材料弯曲性能检测用测试装置及其使用方法

专利名称：	一种材料弯曲性能检测用测试装置及其使用方法
摘要：	一种材料弯曲性能检测用测试装置，包括工作台、安装架和主机；工作台上的外壳内分为两个散热仓和测试仓；隔板上均匀设有用于安装半导体制冷片的安装孔；安装孔内壁与半导体制冷片之间的空间处填充隔热胶；散热仓内设有抽风装置；测试仓的开口处设有密封门，测试仓在外壳的顶部的第一通孔处设有盖板，测试仓内设有温度传感器和夹具；工作台上的安装架设有用于朝向或者远离外壳移动以对外壳内试样挤压的升降挤压装置；主机上设有报警器、显示屏和按键模块，主机内设有电路板以及设置在电路板上的微处理器和计时模块。本发明还提出了上述材料弯曲性能检测用测试装置的使用方法。本发明能满足对金属材料在不同低温环境下进行弯曲检测的需求。
专利类型：	发明专利
申请人：	黄山学院
发明人：	李瑞锋;方辉平;李长江;王文娟;吴甜甜;孙银宇;史建俊;徐涵
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN201911392769.1
公开号：	CN111077026A
代理机构：	北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	李龙
分类号：	G01N3/20;G01N3/02;G;G01;G01N;G01N3;G01N3/20;G01N3/02
申请人地址：	242700 安徽省黄山市屯溪区西海路39号
主权项：	1.一种材料弯曲性能检测用测试装置，其特征在于，包括工作台(2)、外壳(3)、抽风装置(6)、盖板(13)、安装架(17)、主机(18)和半导体制冷片(31)；工作台(2)的底面设有多个支撑脚(1)；外壳(3)设置在工作台(2)上，外壳(3)内并排设有两个隔板(10)；两个隔板(10)用于将外壳(3)内分为两个散热仓(4)和测试仓(8)；测试仓(8)位于两个散热仓(4)之间；其中，位于测试仓(8)内的两个隔板(10)的端面上分别设有两个导冷板(21)；隔板(10)上均匀设有多个安装孔(32)；两个散热仓(4)分别在外壳(3)上设有两个进气孔(5)和多个排气孔(7)；两个抽风装置(6)分别设置在两个散热仓(4)内，其中抽风装置(6)与散热仓(4)一一对应，抽风装置(6)的进气端连接进气孔(5)；多个半导体制冷片(31)分别位于两个散热仓(4)内，多个半导体制冷片(31)分别一一伸入多个安装孔(32)内，多个半导体制冷片(31)的冷端分别压紧两个导冷板(21)；其中，每个安装孔(32)内壁与每个半导体制冷片(31)之间的空间处填充用于隔绝半导体制冷片(31)热端和冷端的隔热胶(30)；测试仓(8)在外壳(3)的端面设有开口，测试仓(8)的开口处设有密封门(28)，测试仓(8)在外壳(3)的顶部设有第一通孔(12)，测试仓(8)内设有温度传感器(11)，测试仓(8)的底面设有两组用于放置金属材料试样两端的夹具(9)；两组夹具(9)以第一通孔(12)的中轴线对称；盖板(13)放置在外壳(3)顶部的第一通孔(12)处，盖板(13)朝向外壳(3)的端面压紧外壳(3)，盖板(13)上设有把手(14)；安装架(17)设置在工作台(2)上，安装架(17)上设有用于朝向或者远离外壳(3)移动以对外壳(3)内试样挤压的升降挤压装置；升降挤压装置位于第一通孔(12)的正上方；主机(18)上设有报警器、显示屏(19)和按键模块(20)，主机(18)内设有电路板以及设置在电路板上的微处理器和计时模块；微处理器分别通信连接温度传感器(11)、显示屏(19)和按键模块(20)，微处理器分别控制连接两个抽风装置(6)、多个半导体制冷片(31)和升降挤压装置。 2.根据权利要求1所述的一种材料弯曲性能检测用测试装置，其特征在于，每组夹具均包括放置块(91)、多个安装板(92)和多个紧定件；其中，外壳(3)的底面设有多个螺纹盲孔；多个安装板(92)分别设置在放置块(91)的侧端面上，多个安装板(92)上分别设有多个螺纹孔；多个紧定件分别螺纹穿过多个螺纹孔并螺纹旋入多个螺纹盲孔内；放置块(91)朝向外壳(3)底面的端面压紧外壳(3)，放置块(91)的上端面朝向相互远离的两个侧端面方向分别设有用于放置方形试样的第二放置槽(95)和用于放置圆形试样的第一放置槽(94)；其中，第一放置槽(94)的底面设为曲面；第二放置槽(95)的横截面为方形。 3.根据权利要求2所述的一种材料弯曲性能检测用测试装置，其特征在于，放置块(91)与外壳(3)压紧的端面上设有弹性橡胶垫。 4.根据权利要求1所述的一种材料弯曲性能检测用测试装置，其特征在于，升降挤压装置包括压头(15)、升降装置(16)、端盖(22)、安装筒(23)、压力传感器(24)、滑动件(25)和连接杆(26)；升降装置(16)的控制连接微处理器，升降装置(16)的固定端连接安装架(17)，升降装置(16)的伸缩端竖直朝向第一通孔(12)并连接端盖(22)；端盖(22)螺纹连接安装筒(23)的上端；安装筒(23)的下端设有第二通孔；连接杆(26)的一端连接压头(15)，连接杆(26)的另一端穿过第二通孔伸入安装筒(23)内，连接杆(26)的另一端连接滑动件(25)；滑动件(25)滑动连接安装筒(23)的内壁以朝向或者远离端盖(22)移动；压力传感器(24)设置在端盖(22)朝向滑动件(25)的端面上，压力传感器(24)通信连接微处理器。 5.根据权利要求4所述的一种材料弯曲性能检测用测试装置，其特征在于，包括滑套(27)；滑套(27)设置在第二通孔内，滑套(27)套设在连接杆(26)的外侧。 6.根据权利要求1所述的一种材料弯曲性能检测用测试装置，其特征在于，进气孔(5)和排气孔(7)内均设有防尘过滤网。 7.根据权利要求1所述的一种材料弯曲性能检测用测试装置，其特征在于，包括压合板(29)；其中，外壳(3)的上端面沿着第一通孔(12)的周向设有首位相连的凹槽；压合板(29)设置盖板(13)上，压合板(29)配合插入凹槽内，压合板(29)朝向凹槽内壁的端面上设有密封垫。 8.根据权利要求7所述的一种材料弯曲性能检测用测试装置，其特征在于，压合板(29)的投影为回字形。 9.根据权利要求1所述的一种材料弯曲性能检测用测试装置，其特征在于，测试仓(8)的内壁上设有保温层。 10.根据权利要求1-9任一项所述的一种材料弯曲性能检测用测试装置，本发明还提出了上述材料弯曲性能检测用测试装置的使用方法，其特征在于，包括以下具体步骤： S1、微处理器控制多个半导体制冷片(31)运行对导冷板(21)制冷，以使得测试仓(8)处于低温环境； S2、打开密封门(28)将待检测金属材料试样放置在两组夹具(9)上，通过计时模块设定试样在低温环境下保存时间，计时结束微处理器控制报警器报警提醒； S3、将盖板(13)与外壳(3)分离；微处理器向升降挤压装置发出信号指令； S4、升降挤压装置运行朝向外壳(3)的一侧伸缩，并伸入外壳(3)内对试样进行挤压，挤压结束后升降挤压装置恢复原位； S5、从显示屏(19)上查看试样弯曲检测数据。
所属类别：	发明专利