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原文传递一种钢丝帘布检测校准装置及检测校准方法

专利名称：	一种钢丝帘布检测校准装置及检测校准方法
摘要：	本申请提供一种钢丝帘布检测校准装置及方法，所述检测校准装置包括检测机构、承托机构和升降机构，所述检测机构包括磁传感器模块，包括基板、多个磁敏元件、处理单元和背向磁单元，用于获取检测信号及校准信号；所述承托机构包括设置于所述钢丝帘布下方，分布于所述检测机构两侧的多个辊轮，用于承托所述钢丝帘布，所述升降机构用于调节所述钢丝帘布幅面与所述磁传感器模块之间的距离。本申请提供的钢丝帘布检测校准装置能够消除钢丝帘布对校准过程的影响，特别适用于大幅面的钢丝帘布生产线，在现场空间有限，检测装置无法滑出工作台的情况下，利用本申请的校准方法，操作方便，易于实现，能够满足校准、扫描精度，适用范围广。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	山东;37
申请人：	威海华菱光电股份有限公司
发明人：	戚务昌;林永辉;王虎岩;孙晓锋
专利状态：	有效
申请日期：	2021-12-07T00:00:00+0800
发布日期：	2022-03-11T00:00:00+0800
申请号：	CN202111489068.7
公开号：	CN114166929A
代理机构：	威海佩敏专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	宋益敏
分类号：	G01N27/82;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/82
申请人地址：	264209 山东省威海市火炬高技术产业开发区科技路179号
主权项：	1.一种钢丝帘布检测校准装置，用于获取对钢丝帘布的检测信号并根据校准信号对所述检测信号进行校准，所述钢丝帘布沿X轴方向运动且所述钢丝帘布的幅面垂直于竖直方向，所述X轴方向垂直于竖直方向，其特征在于，所述钢丝帘布检测校准装置包括：检测机构，包括磁传感器模块，所述磁传感器模块与所述钢丝帘布不在同一平面内且投影于所述钢丝帘布的幅面以内，包括：基板、多个磁敏元件、处理单元和背向磁单元，所述基板的表面平行于所述钢丝帘布的幅面，所述多个磁敏元件沿预设方向间隔地排列于所述基板朝向所述钢丝帘布一侧的表面，用于获取所述检测信号及所述校准信号，所述处理单元和所述背向磁单元设置于所述基板背向所述钢丝帘布一侧的表面，所述背向磁单元沿所述预设方向排列，用于产生初始激励磁场，所述处理单元与所述多个磁敏元件电连接，用于处理所述检测信号和校准信号；承托机构，包括设置于所述钢丝帘布下方，并沿X轴方向分布于所述检测机构两侧的多个辊轮，用于承托所述钢丝帘布，所述辊轮的轴向为Y轴方向，所述Y轴方向分别垂直于X轴方向和竖直方向；升降机构，用于调节所述钢丝帘布幅面与所述磁传感器模块之间的距离。 2.如权利要求1所述的钢丝帘布检测校准装置，其特征在于：所述预设方向为Y轴方向。 3.如权利要求1所述的钢丝帘布检测校准装置，其特征在于：所述检测信号为所述磁传感器模块与所述钢丝帘布的幅面的距离为预设的第一距离时所述多个磁敏元件获取的磁场信号；所述校准信号为所述磁传感器模块与所述钢丝帘布的幅面的距离为预设的第二距离时所述多个磁敏元件获取的磁场信号；所述第二距离大于所述第一距离。 4.如权利要求1所述的钢丝帘布检测校准装置，其特征在于：所述升降机构包括至少一个升降模组，所述升降模组包括电机、螺杆和承接件，所述螺杆竖向设置，所述电机驱动所述螺杆转动，所述承接件通过螺孔套接于螺杆的外部。 5.如权利要求4所述的钢丝帘布检测校准装置，其特征在于：所述辊轮、所述螺杆和所述承接件由无磁性且不会被磁化的材料制成。 6.如权利要求4或权利要求5所述的钢丝帘布检测校准装置，其特征在于：所述承接件与所述磁传感器模块固定连接。 7.如权利要求4或权利要求5所述的钢丝帘布检测校准装置，其特征在于：所述辊轮的两端超过所述钢丝帘布的边缘；所述升降模组的数量为所述辊轮的数量的两倍，所述辊轮的每个端部均与所述承接件固定连接。 8.如权利要求7所述的钢丝帘布检测校准装置，其特征在于，所述检测机构还包括：对向磁模块，所述对向磁模块包括沿所述预设方向排列的对向磁单元；所述对向磁模块设置于所述钢丝帘布背向所述磁传感器模块的一侧，与所述磁传感器模块的连线方向为竖直方向且与所述磁传感器模块之间的距离为固定值。 9.如权利要求8所述的钢丝帘布检测校准装置，其特征在于：所述磁传感器模块还包括磁传感器模块框体和盖板，所述磁传感器模块框体用于置入并固定所述基板、所述多个磁敏元件、所述处理单元和所述背向磁单元，所述盖板位于所述磁传感器模块框体朝向所述钢丝帘布一侧的表面；所述对向磁模块还包括对向磁模块框体，用于置入并固定所述对向磁单元。 10.一种检测校准方法，使用如权利要求1所述的钢丝帘布检测校准装置对钢丝帘布进行检测及校准，其特征在于，所述方法包括以下步骤： S100：停止所述钢丝帘布的运动及所述磁传感器模块的扫描，并将所述磁传感器模块与所述钢丝帘布的幅面的距离设置为预设的第二距离； S200：启动所述磁传感器模块的扫描，获取每个所述磁敏元件的校准信号； S300：根据所述校准信号和预设的校准目标值确定每个所述磁敏元件的校准偏差值； S400：停止所述磁传感器模块的扫描，并将所述磁传感器模块与所述钢丝帘布的幅面的距离设置为预设的第一距离，所述第二距离大于所述第一距离； S500：启动所述钢丝帘布的运动及所述磁传感器模块的扫描，获取每个所述磁敏元件的检测信号； S600：根据所述检测信号和所述校准偏差值确定每个所述磁敏元件的校准后检测信号。 11.如权利要求10所述的检测校准方法，其特征在于：所述第二距离与所述第一距离的比值大于2。 12.如权利要求10所述的检测校准方法，其特征在于：所述步骤S100至步骤S400在首次装机运行前或运行环境变化引起所述初始激励磁场变化时执行。 13.如权利要求10所述的检测校准方法，其特征在于：所述检测机构还包括对向磁模块，所述对向磁模块包括沿所述预设方向排列的对向磁单元；所述对向磁模块设置于所述钢丝帘布背向所述磁传感器模块的一侧，与所述磁传感器模块的连线方向为竖直方向且与所述磁传感器模块之间的距离为固定值；所述第二距离小于所述对向磁模块与所述磁传感器模块之间的距离。 14.如权利要求13所述的检测校准方法，其特征在于：所述第二距离与第三距离的比值大于1，所述第三距离为所述磁传感器模块与所述钢丝帘布的幅面的距离为所述第二距离时所述对向磁模块与所述钢丝帘布的幅面的距离。
所属类别：	发明专利