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一种LED芯片断晶推力测试装置
| 专利名称： | 一种LED芯片断晶推力测试装置 |
| 摘要： | 本实用新型涉及LED芯片断晶推力测试技术领域，特别涉及一种LED芯片断晶推力测试装置，包括操作台，操作台上设有导轨机构和推力测试机构，导轨机构上滑动连接有芯片装载机构，芯片装载机构沿其滑动方向上设有两个以上的芯片放置槽，芯片放置槽中设有背光芯片，推力测试机构位于背光芯片的正上方，这样在要进行背光芯片的推力测试时，先将背光芯片放在芯片放置槽中，推动芯片装载机构，使得其中一个芯片放置槽位于推力测试机构的正下方，推力测试机构从背光芯片的中间下压，背光芯片断裂时的推力值就是背光芯片的断晶推力，当测试完一颗背光芯片的推力值后，将芯片装载机构继续向前推就可以测试下一颗背光芯片的推力值。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 福建兆元光电有限公司 |
| 发明人： | 黄章挺 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2022-06-22T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2022-12-13T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN202221573081.0 |
| 公开号： | CN218036068U |
| 代理机构： | 福州市博深专利事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 林怡然 |
| 分类号： | G01N3/08;G01N3/02;G01L5/00;G;G01;G01N;G01L;G01N3;G01L5;G01N3/08;G01N3/02;G01L5/00 |
| 申请人地址： | 350109 福建省福州市闽侯县南屿镇生物医药和机电产业园区 |
| 主权项： | 1.一种LED芯片断晶推力测试装置，其特征在于，包括操作台，所述操作台上设有导轨机构和推力测试机构，所述导轨机构上滑动连接有芯片装载机构，所述芯片装载机构沿其滑动方向上设有两个以上的芯片放置槽，所述芯片放置槽中设有背光芯片，所述推力测试机构位于背光芯片的正上方。 2.根据权利要求1所述的LED芯片断晶推力测试装置，其特征在于，所述芯片装载机构包括装载板，所述装载板的一端面向内凹陷形成装载槽，所述装载槽内设有芯片装载器，所述装载槽的形状与芯片装载器的形状相适配，所述芯片放置槽设置在芯片装载器上，所述装载板的另一端面设有缺口，所述缺口与装载槽相通。 3.根据权利要求1所述的LED芯片断晶推力测试装置，其特征在于，所述导轨机构包括滑动板，所述滑动板的一端面向内凹陷形成安装槽，所述安装槽的相对两槽壁上对称开设有供芯片装载机构滑动的滑动槽。 4.根据权利要求1所述的LED芯片断晶推力测试装置，其特征在于，所述芯片放置槽的尺寸大于背光芯片的尺寸。 5.根据权利要求1所述的LED芯片断晶推力测试装置，其特征在于，两个以上的所述芯片放置槽等间距排布。 |
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