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原文传递一种芯片加工用检测装置

专利名称：	一种芯片加工用检测装置
摘要：	本实用新型提供了一种芯片加工用检测装置，属于芯片加工技术领域，包括主体机构，所述主体机构包括检测装置本体，所述检测装置本体，所述检测装置本体的顶部设置有检测台；防迸溅机构，所述防迸溅机构位于检测台的顶部，所述防迸溅机构包括防护板，所述防护板设置于检测台的顶部；收集机构，所述收集机构位于检测装置本体的一侧，所述防护板的内壁设置有转轴，所述转轴的一端设置于检测台的顶部，所述转轴的高度大于防护板的高度。本实用新型通过设置防迸溅机构，能够达到防止芯片碎裂发生迸溅的现象，避免芯片发生碎裂迸溅飞向操作人员导致操作人员发生受伤的现象，保证了操作人员的安全性。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	江苏和睿半导体科技有限公司
发明人：	郑石磊
专利状态：	有效
申请日期：	2022-06-30T00:00:00+0800
发布日期：	2023-01-06T00:00:00+0800
申请号：	CN202221678936.6
公开号：	CN218239603U
代理机构：	徐州新知科服知识产权代理有限公司
代理人：	李瑞环
分类号：	G01N3/08;G01N3/02;G;G01;G01N;G01N3;G01N3/08;G01N3/02
申请人地址：	226000 江苏省南通市如皋市长江镇迅驰路28号
主权项：	1.一种芯片加工用检测装置，其特征在于，包括主体机构(100)，所述主体机构(100)包括检测装置本体(101)，所述检测装置本体(101)，所述检测装置本体(101)的顶部设置有检测台(102)；防迸溅机构(200)，所述防迸溅机构(200)位于检测台(102)的顶部，所述防迸溅机构(200)包括防护板(201)，所述防护板(201)设置于检测台(102)的顶部；收集机构(300)，所述收集机构(300)位于检测装置本体(101)的一侧。 2.根据权利要求1所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于，所述防护板(201)的内壁设置有转轴(210)，所述转轴(210)的一端设置于检测台(102)的顶部。 3.根据权利要求2所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于，所述转轴(210)的高度大于防护板(201)的高度。 4.根据权利要求1所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于，所述防护板(201)的一侧设置有转块(203)，所述检测台(102)的一侧设置有限位杆(204)，所述转块(203)的一侧开设有与限位杆(204)表面配合使用的限位槽(205)。 5.根据权利要求4所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于，所述防护板(201)的一侧设置有固定轴(202)，所述转块(203)套设于固定轴(202)的表面。 6.根据权利要求1所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于，所述防护板(201)的一侧设置有固定块(206)，所述固定块(206)的底部设置有定位杆(208)，所述检测台(102)的一侧设置有定位板(207)，所述定位板(207)的顶部开设有与定位杆(208)配合使用的定位孔(209)。 7.根据权利要求1所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于，所述收集机构(300)包括收集盒(301)，所述收集盒(301)设置于检测装置本体(101)的一侧，所述收集盒(301)的内腔设置有抽屉(304)。 8.根据权利要求7所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于，所述收集盒(301)的顶部设置有导向板(302)，所述导向板(302)的顶部呈斜坡状。 9.根据权利要求8所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于，所述导向板(302)和收集盒(301)的顶部均开设有开口(303)。 10.根据权利要求7所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于，所述抽屉(304)的一侧设置有手柄(305)，所述收集盒(301)的一侧设置有收纳盒(306)，所述收纳盒(306)的内壁设置有清理刷(307)。