专利名称: |
通过胶乳凝集法测定目标物质的方法及其试剂 |
摘要: |
本发明公开了在低浓度区域及高浓度区域的任一个中都可准确地进行测定的、通过胶乳凝集法测定目标物质的方法及其试剂。在包括使敏化胶乳粒子的悬浮液与目标物质反应,然后从光学变化量来测定敏化胶乳粒子的凝集的、通过胶乳凝集法测定目标物质的方法中,敏化胶乳粒子敏化前的体积平均粒径为80 nm~335 nm,反应体系中敏化胶乳粒子的终浓度为0.005~0.10 w/v%,敏化胶乳粒子的敏化前粒径为80 nm以下的粒子在反应体系中的终浓度为0.09 w/v%以下,光学变化量为吸光度变化量和散射光变化量。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
电化株式会社;株式会社日立高新技术 |
发明人: |
佐藤良克;皆川康纪;宫田建治 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2020-03-30T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2022-12-23T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN202080099034.4 |
公开号: |
CN115516312A |
代理机构: |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人: |
张桂霞;庞立志 |
分类号: |
G01N33/543;G;G01;G01N;G01N33;G01N33/543 |
申请人地址: |
日本东京都; |
主权项: |
1. 通过胶乳凝集法测定目标物质的方法,其包括使敏化胶乳粒子的悬浮液与目标物质反应,然后从光学变化量来测定前述敏化胶乳粒子的凝集,其中,前述敏化胶乳粒子敏化前的体积平均粒径为80 nm~335 nm,反应体系中前述敏化胶乳粒子的终浓度为0.005~0.170 w/v%,前述敏化胶乳粒子的敏化前粒径为80 nm以下的粒子在反应体系中的终浓度为0.09 w/v%以下,前述光学变化量为吸光度变化量和散射光变化量。 2.权利要求1所述的方法,其中,使用前述敏化胶乳粒子敏化前的体积平均粒径的1~10倍范围的波长的光来进行前述吸光度变化量及前述散射光变化量的测定。 3. 权利要求1或者2所述的方法,其中,前述吸光度变化量的测定波长使用在500~900nm范围内选择的2个波长,进一步地所选的2个测定波长使用主波长和比该主波长更长的副波长,而且,前期散射光变化量使用在500~900 nm范围内选择的1个波长。 4.权利要求1~3的任1项中所述的方法,所述方法对于前述目标物质,在应达成测定值的下限值和上限值根据规定而确定的情况下,以仅通过吸光度测定达成该下限值所需要的最低检材量浓度的0.7倍以下的检材量浓度进行。 5.权利要求1~4的任1项中所述的方法,其中,在前述散射光变化量的测定中,在散射角为10°~30°的范围内测定至少1种散射。 6. 通过胶乳凝集法测定目标物质的试剂,其包括使敏化胶乳粒子的悬浮液与前述目标物质反应,然后从吸光度变化量和散射光变化量来测定前述敏化胶乳粒子的凝集,其中,前述敏化胶乳粒子敏化前的体积平均粒径为80 nm~335 nm,反应体系中前述敏化胶乳粒子的终浓度为0.005~0.10 w/v%,前述敏化胶乳粒子的敏化前粒径为80 nm以下的粒子在反应体系中的终浓度为0.09 w/v%以下。 7.权利要求6中所述的试剂,其中,敏化前的前述敏化胶乳粒子的体积平均粒径为前述吸光度变化量及前述散射光变化量的测定波长的1~1/10的范围。 |