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原文传递瓷砖缺陷激光定位方法、控制装置及系统

专利名称：	瓷砖缺陷激光定位方法、控制装置及系统
摘要：	本发明公开了瓷砖缺陷激光定位方法、控制装置及系统，该方法通过拍摄瓷砖的光学图像，以光学图像相邻的两条边为X轴和Y轴建立第一直角坐标系，识别瓷砖缺陷部位，再通过光学图像的尺寸信息和原始坐标、以及激光源投射区域的尺寸信息和分辨率构建光学图像坐标系与激光源投射区域坐标系的投射关系，得到瓷砖缺陷部位的第一坐标，获取瓷砖在生产线的传输速度，通过把第一坐标和传输速度代入计算公式得到激光矩阵单元的控制信号，瓷砖到达指定位置触发控制信号，激光矩阵单元接收控制信号向瓷砖缺陷部位投射激光进行标示，便于作业人员精确检查出瓷砖上的缺陷，提高作业效率。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	佛山喀视科技有限公司
发明人：	梁逸豪;曹君;吴泽鹏;侯进朗
专利状态：	有效
申请日期：	2022-09-26T00:00:00+0800
发布日期：	2023-01-06T00:00:00+0800
申请号：	CN202211172970.0
公开号：	CN115575410A
代理机构：	广东北定知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	曹江雄
分类号：	G01N21/95;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/95;G01N21/01
申请人地址：	528253 广东省佛山市南海区桂城街道深海路17号瀚天科技城A区6号楼十三楼1306、1307单元
主权项：	1.一种瓷砖缺陷激光定位方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1，获取瓷砖缺陷部位的坐标，拍摄瓷砖的光学图像，将所述光学图像相邻的两条边设为X轴和Y轴，通过X轴和Y轴建立第一直角坐标系，将所述光学图像与瓷砖缺陷数据库作对比确定瓷砖缺陷部位的位置，记录瓷砖缺陷部位在所述第一直角坐标系的第一坐标；步骤S2，构建激光投射关系；步骤S3，获取瓷砖传输速度，利用测速编码器测量瓷砖在生产线上的传输速度；步骤S4，数据预处理，对获取的所述第一坐标和所述传输速度进行计算并得到控制信号；步骤S5，标识定位，根据所述第一坐标和所述控制信号对瓷砖缺陷位置进行标识定位。 2.根据权利要求1所述的瓷砖缺陷激光定位方法，其特征在于，所述构建激光投射关系的具体步骤如下：提供激光矩阵单元投射激光；根据所述光学图像的尺寸信息、原始坐标、所述激光矩阵单元投射区域的尺寸信息和分辨率构建所述光学图像坐标系与所述激光矩阵单元投射区域坐标系的投射关系。 3.根据权利要求2所述的瓷砖缺陷激光定位方法，其特征在于，所述激光矩阵单元有N个激光源，N个所述激光源沿所述第一直角坐标系X轴方向阵列分布，以激光矩阵单元投射区域建立第二直角坐标系，所述第一直角坐标系相对于与所述第二直角坐标系可运动，所述第二直角坐标系的X轴和Y轴分别与所述第一直角坐标系的X轴和Y轴平行，所述第二直角坐标系的X轴区间与所述第一直角坐标系的X轴区间大小相同，根据激光源的数量，将所述第二直角坐标系划分成N个面积相同的方格区域，每个所述方格区域动态对应第一直角坐标系的坐标区间。 4.根据权利要求1所述的瓷砖缺陷激光定位方法，其特征在于，根据所述第一坐标和所述控制信号对瓷砖缺陷位置进行标识定位的具体步骤如下：根据所述第一坐标和所述控制信号，投射光源照射到瓷砖的缺陷部位，使瓷砖的缺陷部分高亮或不同于其它位置的颜色显示以标识定位该缺陷部位位置。 5.根据权利要求1所述的瓷砖缺陷激光定位方法，其特征在于，所述测速编码器与瓷砖生产线的旋转轴相连，所述测速编码器测量瓷砖在生产线上的传输速度，并把所述传输速度的数值转换成电信号。 6.根据权利要求1所述的瓷砖缺陷激光定位方法，其特征在于，所述获取的第一坐标和传输速度进行计算的具体步骤如下；提取所述第一坐标中的Y轴数值，根据计算公式T＝Y/V，获取控制所述激光源的控制信号，其中，T是延时时间，Y是缺陷部位在所述第一直角坐标系的Y轴数值，V是瓷砖在生产线上的传输速度。 7.一种控制装置，其特征在于，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行实现如权利要求1至6中任一项所述的瓷砖缺陷激光定位方法。 8.一种瓷砖缺陷激光定位系统，其特征在于，包括：缺陷识别设备，所述缺陷识别设备用于拍摄并处理瓷砖的光学图像；测速编码器，所述测速编码器用于测量瓷砖在生产线上的传输速度；第一控制器，所述第一控制器与所述缺陷识别设备和所述测速编码器电连接，所述第一控制器用于传递所述缺陷识别设备记录的第一坐标和瓷砖在生产线上的所述传输速度；第二控制器，所述第二控制器与所述第一控制器电连接，所述第二控制器用于对所述第一坐标和传输速度进行计算得到所述激光矩阵单元的控制信号；激光矩阵单元，所述激光矩阵单元与所述第二控制器电连接，所述激光矩阵单元用于提供激光源对瓷砖缺陷部位投射激光进行投射标识。 9.根据权利要求8所述的瓷砖缺陷激光定位系统，其特征在于，所述第二控制器用于接收并处理所述第一控制器发送的信号，所述缺陷识别设备能将所述光学图像相邻的两条边分别作为X轴和Y轴建立第一直角坐标系，将所述第二控制器中的多个输出端口与所述第一直角坐标系的X轴数值对应分配，根据所述第一坐标中的X轴数值确定启动对应的输出端口；根据计算公式：T＝Y/V，获取所述第二控制器中定时器的延时时间，作为决定控制信号允许通过输出端口输出的启动时间，其中，T是延时时间，Y是缺陷部位在所述第一直角坐标系的Y轴数值，V是瓷砖在生产线上的传输速度。 10.根据权利要求8所述的瓷砖缺陷激光定位系统，其特征在于，所述激光矩阵单元中的激光源数量为N个，N个所述激光源独立工作；和/或所述缺陷识别设备与所述第一控制器采用CAN总线方式连接；和/或所述第一控制器与所述第二控制器采用RS485方式连接；和/或所述激光矩阵单元采用低照度激光器。