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原文传递一种自动光学检测方法及系统

专利名称：	一种自动光学检测方法及系统
摘要：	本发明涉及一种自动光学检测方法，特别适用于需要多次局部图像采集组合分析检测的情况，包括以下步骤：(a)采集待检测物上的标记点并根据所述标记点及标记点模板计算整体坐标体系；(b)参照整体坐标体系采集检测图像，该检测图像为包括冗余区及待检测区的图像；(c)计算局部坐标体系；(d)使用局部坐标体系对照相应的标准模板对待检测区进行分析检测。本发明还提供一种对应的系统。本发明通过增大采集的图像(增加了冗余区)，在现有的整体坐标计算的基础上增加了待检测区的二次局部坐标计算，从而避免了图像采集过程中机械运动的影响，增加了检测的准确性，并增加了机械运动允许的误差范围，使得机械精度可降低到原来的1/5或更低。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市美威数控技术有限公司
发明人：	王占良
专利状态：	有效
申请日期：	2009-05-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200910107542.8
公开号：	CN101566581
代理机构：	深圳市顺天达专利商标代理有限公司
代理人：	陆军
分类号：	G01N21/88(2006.01)I
申请人地址：	518040广东省深圳市福田区泰然工业园201栋西501
主权项：	1、一种自动光学检测方法，其特征在于，包括以下步骤： (a)采集待检测物上的标记点并根据所述标记点及标记点模板计算整体坐标体系； (b)参照所述整体坐标体系将待检测物和/或图像采集单元移动到预定位置并采集检测图像，所述检测图像为包括冗余区及待检测区的图像； (c)在待检测区对应的标准模板上确定一个或一个以上的特征区作为子模板，并在采集的检测图像中分析查找所述子模板所对应的区域并把该区域作为参照区，然后根据所述参照区计算局部坐标体系； (d)使用所述局部坐标体系对照相应的标准模板对所述待检测区进行分析检测。
所属类别：	发明专利