专利名称: |
自动光学检测方法及装置 |
摘要: |
本发明涉及一种自动光学检测方法。该方法包括步骤:对待测物进行扫描并获取待测物的灰阶图像;获取待测物的彩色图像;根据灰阶图像确定待测物是否存在缺陷,并在存在缺陷时获取缺陷的位置信息;以及根据位置信息从彩色图像中提取与位置信息相对应的缺陷图像。本发明还涉及一种自动光学检测装置,包括扫描相机,用于对待测物进行扫描并获取待测物的灰阶图像;拍照相机,用于获取待测物的彩色图像;图像处理器,用于根据灰阶图像确定待测物是否存在缺陷,并在存在缺陷时获取缺陷的位置信息,以及根据位置信息从彩色图像中提取与位置信息相对应的缺陷图像。采用上述自动光学检测方法及装置检测待测物的缺陷,缩短了检测的时间,检测效率较高。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
昆山国显光电有限公司 |
发明人: |
鲍杰 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810199984.9 |
公开号: |
CN108445010A |
代理机构: |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人: |
唐清凯 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88;G01N21/956 |
申请人地址: |
215300 江苏省苏州市昆山市开发区龙腾路1号4幢 |
主权项: |
1.一种自动光学检测方法,用于检测待测物是否存在缺陷,其特征在于,所述方法包括步骤:对所述待测物进行扫描并获取所述待测物的灰阶图像;获取所述待测物的彩色图像;根据所述灰阶图像确定所述待测物是否存在缺陷,并在存在缺陷时获取所述缺陷的位置信息;以及根据所述位置信息从所述彩色图像中提取与所述位置信息相对应的缺陷图像。 |
所属类别: |
发明专利 |