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一种印制电路板虚焊点的红外检测方法
| 专利名称： | 一种印制电路板虚焊点的红外检测方法 |
| 摘要： | 一种印制电路板虚焊点的红外检测方法，首先使用脉冲热加载装置对被检 测焊点进行热加载，同时使用红外热像系统对热加载过程中被检测焊点的表面 温度进行连续采集，得到序列热像图；然后在得到的序列热像图，确定被检测 焊点上被热加载装置加热的区域；随后在序列热像图上提取被检测焊点上被热 加载装置加热的区域在热加载前后温度场的变化曲线图；最后在温度场变化曲 线上根据加载前后温度曲线上升和下降过程中是否出现拐点来判定焊点是否虚 焊。本发明方法通过在温度曲线上升和下降过程中寻找拐点即可完成对虚焊点 的检测，操作简便，可靠性高，通用性强。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京卫星制造厂;哈尔滨工业大学 |
| 发明人： | 周双锋;孔令超;刘战捷;王春青 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-07-24T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910089790.4 |
| 公开号： | CN101614688 |
| 代理机构： | 中国航天科技专利中心 |
| 代理人： | 安 丽 |
| 分类号： | G01N25/72(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100080北京市海淀区北京2728信箱 |
| 主权项： | 1、一种印制电路板虚焊点的红外检测方法，其特征在于步骤如下： (1)使用脉冲热加载装置对被检测焊点进行热加载，同时使用红外热像系 统对热加载过程中被检测焊点的表面温度进行连续采集，得到序列热像图； (2)根据得到的序列热像图确定被检测焊点上被热加载装置加热的区域； (3)在序列热像图上提取被检测焊点上被热加载装置加热的区域在热加载 前后温度场的变化曲线图； (4)在温度场变化曲线图上根据热加载前后温度曲线上升和下降过程中是 否出现拐点来判定焊点是否虚焊。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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