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原文传递 X荧光分析仪

专利名称：	X荧光分析仪
摘要：	本实用新型公开了一种X荧光分析仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及测样装置；所述信号探测装置中设有探测器，在所述信号处理装置中设有与探测器连接的放大器以及与放大器连接的模数转换器；所述探测器采用的是电制冷探测器，所述激发光源装置中设有低功率X射线发生器，所述探测器处于低功率X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，所述X射线发生器前还设有滤光片选择装置。本实用新型具有操作简单、使用方便、精确度高、稳定性好和故障率低等优点。
专利类型：	实用新型专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海精谱仪器有限公司
发明人：	周偃;苏建平;郭晓明
专利状态：	有效
申请日期：	2009-03-04T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200920068392.X
公开号：	CN201373857
代理机构：	上海天翔知识产权代理有限公司
代理人：	陈学雯
分类号：	G01N23/223(2006.01)I
申请人地址：	201801上海市嘉定区马陆镇嘉新公路1135号
主权项：	1、X荧光分析仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及置样装置；所述信号探测装置中设有探测器，所述信号处理装置中设有与探测器连接的放大器以及与放大器连接的模数转换器；其特征在于，所述激发光源装置中设有低功率X射线发生器，所述探测器处于低功率X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，所述X射线发生器前设有滤光片选择装置。
所属类别：	实用新型