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原文传递 X荧光分析系统

专利名称：	X荧光分析系统
摘要：	X荧光分析系统，包括管压信号调理电路、管流信号调理电路、ADC模块。所述管压信号调理电路用于把被测X射线光管高压电压值调整到0V~3.3V范围内；所述SD卡存储模块用于存储Cortex‑M3处理器的数据处理结果和时钟信息；所述LCD模块用于显示Cortex‑M3处理器的数据处理结果和时钟信息；所述Cortex‑M3处理器通过USB接口与PC机系统连接；所述PC机系统用于获取SD卡存储模块存储的数据。本发明具有以下优点：采用一体化设计方案，方便现场安装和维护、同时数据精准可靠。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	成都金九格科技有限公司
发明人：	不公告发明人
专利状态：	有效
申请日期：	2017-11-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-17T00:00:00+0800
申请号：	CN201711099457.2
公开号：	CN109765252A
分类号：	G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	610000 四川省成都市新津县五津镇惠安路(华建大厦)
主权项：	1.X荧光分析系统，包括管压信号调理电路、管流信号调理电路、ADC模块。所述管压信号调理电路用于把被测X射线光管高压电压值调整到0V~3.3V范围内；所述SD卡存储模块用于存储Cortex-M3处理器的数据处理结果和时钟信息；所述LCD模块用于显示Cortex-M3处理器的数据处理结果和时钟信息；所述Cortex-M3处理器通过USB接口与PC机系统连接；所述PC机系统用于获取SD卡存储模块存储的数据。本发明具有以下优点：采用一体化设计方案，方便现场安装和维护、同时数据精准可靠。
所属类别：	发明专利