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原文传递深空X荧光分析方法

专利名称：	深空X荧光分析方法
摘要：	一种深空X荧光分析方法，涉及X荧光分析技术，在没有实际标样的条件下运用模拟标样对深空行星的荧光数据进行定量分析。该方法结合蒙特卡罗方法和基本参数法：应用太阳监视器测量到的不同时期太阳辐射X 射线作为激发能谱，采用geant4软件包运用蒙特卡罗方法对不同样品的荧光光谱进行模拟，采用基于基本参数法编写的程序对在轨测量荧光能谱和模拟得到的标准能谱进行迭代运算，并根据卫星轨道数据和探测器的视场设计对数据进行网格划分，得到行星的元素分布数据。本发明方法无需携带标准样品，用蒙特卡洛模拟方法，方便而准确地得到模拟的标准样品能谱。而基本参数法是一种准确的计算方法，两种方法结合，得到准确的行星元素分布信息。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国科学院高能物理研究所
发明人：	崔兴柱;彭文溪;王焕玉;张承模;杨家卫;曹学蕾;汪锦州;梁晓华;陈勇;高旻;张家宇
专利状态：	有效
申请日期：	2008-05-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200810106009.5
公开号：	CN101576517
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	周国城
分类号：	G01N23/223(2006.01)I
申请人地址：	100049北京市石景山区玉泉路19号乙
主权项：	1.一种深空X荧光分析方法，可在没有实际标样的条件下对深空行星的荧光数据进行定量分析；其特征为：针对太阳监视器在不同时期测量到的太阳X射线辐射能谱，运用卫星发射前角度定标数据进行角度校正，校正后的能谱作为荧光的激发谱，运用Geant4软件包对已知成分的样品进行蒙特卡洛荧光模拟，采用基于基本参数法编写的程序将模拟得到的荧光能谱作为标准样品谱，与X射线谱仪测量得到行星表面的荧光能谱进行迭代运算，得到行星表面的元素定量结果，再根据卫星轨道数据和探测器的视场设计对测量的荧光数据进行网格划分，得到行星元素成分的空间分布信息。
所属类别：	发明专利