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原文传递 X射线暗场成像系统和方法

专利名称：	X射线暗场成像系统和方法
摘要：	一种X射线成像技术，利用包括：X射线源、两吸收光栅G1和G2、X射线探测器、控制器和数据处理单元的成像系统对被测物体进行X射线暗场CT成像，包括：向被测物体发射X射线；使得所述两块吸收光栅G1和G2之一在其至少一个周期范围内进行相位步进运动；在每个相位步进步骤，探测器接收X射线，并转化为电信号；其中，经过至少一个周期的相位步进，探测器上每个像素点处的X射线光强表示为一个光强曲线；根据探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线的对比度，计算得到每个像素的散射角分布的二阶矩；在多个角度拍摄物体的图像，然后根据CT重建算法可以得物体的散射信息图像。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	清华大学;同方威视技术股份有限公司
发明人：	黄志峰;陈志强;张丽;王振天;邢宇翔;赵自然;肖永顺
专利状态：	有效
申请日期：	2009-07-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200910088662.8
公开号：	CN101943668A
代理机构：	中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人：	周红力;刘红
分类号：	G01N23/04(2006.01)I
申请人地址：	100084 北京市海淀区清华大学
主权项：	一种X射线成像系统，用于对物体进行X射线散射成像，其包括：X射线源、第一和第二吸收光栅G1和G2、X射线探测器，其依次位于X射线的传播方向上；其中，该系统还包括：数据处理器单元，用于进行数据信息的处理；以及控制器，用于控制所述X射线源、第一和第二吸收光栅G1和G2、X射线探测器、以及处理器单元的操作，以实现下述过程：X射线源向被测物体发射X射线；所述两块吸收光栅G1和G2之一在其至少一个周期范围内进行相位步进运动；在每个相位步进步骤，所述探测器接收X射线，并转化为电信号；其中，经过至少一个周期的相位步进，探测器上每个像素点处的X射线光强表示为一个光强曲线；将探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线相比较，得到光强曲线的对比度变化；由所述光强曲线的变化计算得出探测器上每个像素的散射角分布的二阶矩；以及由所述散射角分布的二阶矩得出被检测物体的图像的像素值，由此重建被检测物体的图像。
所属类别：	发明专利