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一种测量非线性晶体热功率大小的装置
| 专利名称： | 一种测量非线性晶体热功率大小的装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种测量非线性晶体热功率大小的装置，包括非线性晶体、温度传感器、智能模块、控温电源、控温炉和示波器。非线性晶体放置于控温炉内部，工作于某一设定的温度T1条件下，起到激光变频的作用；温度传感器用于测量非线性晶体的实际工作温度T0，并将该值反馈给智能模块；智能模块用于将温度传感器测量到的非线性晶体的实际工作温度T0与设定的温度T1比较，据此调节控温电源向控温炉输出的加热电压，将非线性晶体控制于设定的工作温度T1下；控温炉采用加热丝作为加热元件；温度传感器、智能模块、控温电源和控温炉构成控温系统，示波器实时测量控温电源向控温炉输出的加热电压的波形W。利用本发明，实现了非线性晶体热功率大小的测量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 发明人： | 熊波;李晋闽;林学春;侯玮;郭林;陈然;马建立;农光壹 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-08-18T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201010257008.8 |
| 公开号： | CN101949871A |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
| 代理人： | 周国城 |
| 分类号： | G01N25/20(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |
| 主权项： | 一种测量非线性晶体热功率大小的装置，其特征在于，该装置包括非线性晶体(101)、温度传感器(102)、智能模块(103)、控温电源(104)、控温炉(105)和示波器(106)，其中：非线性晶体(101)，放置于控温炉(105)内部，工作于某一设定的温度T1条件下，起到激光变频的作用；温度传感器(102)，用于测量非线性晶体(101)的实际工作温度T0，并将该值反馈给智能模块(103)；智能模块(103)，用于将温度传感器(102)测量到的非线性晶体(101)的实际工作温度T0与设定的温度T1比较，据此调节控温电源(104)向控温炉(105)输出的加热电压，将非线性晶体(101)控制于设定的工作温度T1下；控温炉(105)，采用加热丝作为加热元件；温度传感器(102)、智能模块(103)、控温电源(104)和控温炉(105)构成成控温系统(001)，示波器(106)实时测量控温电源(104)向控温炉(105)输出的加热电压的波形W。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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