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T和He-3加速器质谱高灵敏测量装置
| 专利名称： | T和He-3加速器质谱高灵敏测量装置 |
| 摘要： | 本发明涉及一种T和He‑3加速器质谱高灵敏测量装置，包括用于产生正离子的离子源，离子源产生的正离子通过注入磁铁将质量数为3的离子送入加速管，所述加速管连接剥离器，通过剥离器将分子离子瓦解成单原子离子，所述剥离器与分析磁铁连接，通过分析磁铁将T和3He分开，所述分析磁铁连接探测系统，探测系统对分开后的T和3He进行分别测定。本发明采用正离子引出结合加速器质谱和膜剥离技术排除各种干扰本底实现T和3He的高灵敏、高效测定，极大提高了T和3He测量灵敏度和测量效率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国原子能科学研究院 |
| 发明人： | 何明;包轶文;姜山;游曲波;苏胜勇;李康宁;胡跃明;赵庆章 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810067953.8 |
| 公开号： | CN108387633A |
| 分类号： | G01N27/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/62 |
| 申请人地址： | 102413 北京市房山区新镇三强路1号院 |
| 主权项： | 1.一种T和He‑3加速器质谱高灵敏测量装置，其特征在于：包括用于产生正离子的离子源，离子源产生的正离子通过注入磁铁将质量数为3的离子送入加速管，所述加速管连接剥离器，通过剥离器将分子离子瓦解成单原子离子，所述剥离器与分析磁铁连接，通过分析磁铁将T和3He分开，所述分析磁铁连接探测系统，探测系统对分开后的T和3He进行分别测定。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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