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定量检测三氧化二铋中痕量杂质的方法
| 专利名称： | 定量检测三氧化二铋中痕量杂质的方法 |
| 摘要： | 本发明提供了定量检测三氧化二铋中痕量杂质的方法，获得一种三氧化二铋的标准品，来修正辉光放电质谱仪的相对灵敏度因子，为三氧化二铋中痕量杂质的准确定量提供依据。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 广东先导稀材股份有限公司 |
| 发明人： | 谭秀珍;李瑶;朱刘;邓育宁 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810268060.X |
| 公开号： | CN108918649A |
| 分类号： | G01N27/68(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N1;G01N27/68;G01N27/62;G01N1/28 |
| 申请人地址： | 511517 广东省清远市高新区百嘉工业园27-9B |
| 主权项： | 1.一种定量检测三氧化二铋中痕量杂质的方法，其特征在于，所述方法包括在千级洁净房里进行以下步骤：S1：称取质量为m的高纯三氧化二铋样品于一PFA瓶中，至少加入一定体积的第一混标、第二混标、第三混标，形成标准品，并放在一烘箱里烘干，所述第一混标为Al、As、B、Ba、Be、Bi、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Ga、Li、Mg、Mn、Ni、pb、Sb、Sn、Sr、Ti、Tl、V、Zn的混标液，所述第二混标为Zr、Hf、W、Mo、Ta、Nb、Ti的混标液，所述第三混标为La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Y的混标液；所述高纯三氧化二铋样品的纯度为6N及以上；所加入第一混标、第二混标、第三混标的体积与样品质量m的比值均为0.5ml:5g；S2：待标准品烘干后，于PFA瓶中用一PFA圆棒将标准品研磨均匀形成标准粉体；S3：将制备的标准粉体用电感耦合等离子体质谱仪验证其准确性后，再用辉光放电质谱仪检测，并以此用来修正辉光放电质谱仪的相对灵敏度因子。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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