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原文传递 一种测量聚合物超痕量放射性本底的检测方法
专利名称: 一种测量聚合物超痕量放射性本底的检测方法
摘要: 本发明属于分析化学领域,涉及一种测量聚合物中超痕量放射性本底的检测方法。本发明采用干灰化法的前处理方式,建立了ICP‑MS测量超痕量放射性本底的分析方法,实现了有机玻璃中超痕量元素的分析。本发明的检测方法检出限可达1pg/g以下,此外,本发明的方法还具有操作简单、快速、准确的优势。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 中山大学
发明人: 刘洪涛
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810023562.6
公开号: CN108414607A
代理机构: 北京市万慧达律师事务所 11111
代理人: 谢敏楠
分类号: G01N27/62(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N1;G01N27/62;G01N1/44
申请人地址: 510275 广东省广州市海珠区新港西路135号
主权项: 1.一种测量聚合物中超痕量放射性本底的检测方法,其特征在于包含以下步骤:(1)将聚合物置于石英坩埚中焦化处理;(2)经焦化处理的聚合物连同坩埚灰化至无明显残渣;(3)灰化后冷却至室温,在坩埚中加入含HNO3和HCl的水溶液;(4)加热石英坩埚至溶液微沸;(5)冷却后用ICP‑MS测定。
所属类别: 发明专利
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