专利名称: |
一种测量聚合物超痕量放射性本底的检测方法 |
摘要: |
本发明属于分析化学领域,涉及一种测量聚合物中超痕量放射性本底的检测方法。本发明采用干灰化法的前处理方式,建立了ICP‑MS测量超痕量放射性本底的分析方法,实现了有机玻璃中超痕量元素的分析。本发明的检测方法检出限可达1pg/g以下,此外,本发明的方法还具有操作简单、快速、准确的优势。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
中山大学 |
发明人: |
刘洪涛 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810023562.6 |
公开号: |
CN108414607A |
代理机构: |
北京市万慧达律师事务所 11111 |
代理人: |
谢敏楠 |
分类号: |
G01N27/62(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N1;G01N27/62;G01N1/44 |
申请人地址: |
510275 广东省广州市海珠区新港西路135号 |
主权项: |
1.一种测量聚合物中超痕量放射性本底的检测方法,其特征在于包含以下步骤:(1)将聚合物置于石英坩埚中焦化处理;(2)经焦化处理的聚合物连同坩埚灰化至无明显残渣;(3)灰化后冷却至室温,在坩埚中加入含HNO3和HCl的水溶液;(4)加热石英坩埚至溶液微沸;(5)冷却后用ICP‑MS测定。 |
所属类别: |
发明专利 |