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原文传递 复合检查设备和复合检查方法
专利名称: 复合检查设备和复合检查方法
摘要: 本发明涉及一种复合检查设备,该复合检查设备包括多个检查通道和至少一台组合扫描X光机。每一台组合扫描X光机被构造成发出相互独立的一个X射线笔形束和一个X射线扇形束。X射线笔形束适用于对一个检查通道内的待检目标进行背散射扫描。X射线扇形束适用于对另一个检查通道内的待检目标进行透射扫描。本发明还涉及利用上述复合检查设备对待检目标进行检查的方法,该方法包括:使第一待检目标从一个检查通道中穿过,以利用X射线笔形束对第一待检目标进行背散射扫描;以及使第二待检目标从另一个检查通道中穿过,以利用X射线扇形束对第二待检目标进行透射扫描。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 同方威视技术股份有限公司
发明人: 陈志强;吴万龙;丁富华;唐乐;曹硕
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810445533.9
公开号: CN108426899A
代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人: 孙纪泉
分类号: G01N23/04(2018.01)I;G01N23/203(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04;G01N23/203
申请人地址: 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
主权项: 1.一种复合检查设备,包括多个检查通道和至少一台组合扫描X光机,其特征在于,每一台组合扫描X光机被构造成发出相互独立的一个X射线笔形束和一个X射线扇形束,所述X射线笔形束适用于对一个检查通道内的待检目标进行背散射扫描,所述X射线扇形束适用于对另一个检查通道内的待检目标进行透射扫描。
所属类别: 发明专利
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