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原文传递透射检查设备和检查方法

专利名称：	透射检查设备和检查方法
摘要：	本发明公开一种透射检查设备，该透射检查设备包括两个检查通道以及设置在两个检查通道之间的双扇束X光机。双扇束X光机被构造成产生相互独立的两个X射线扇形束，将一个X射线扇形束向一个检查通道内发射，并且将另一个X射线扇形束向另一个检查通道内发射，以便分别对两个检查通道内的被检目标进行透射扫描。两个X射线扇形束的张角中心线形成一夹角，使得两个检查通道内的透射扫描互不干扰。本发明还公开了利用上述透射检查设备对被检目标进行检查的方法。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	同方威视技术股份有限公司
发明人：	陈志强;吴万龙;丁富华;桑斌;郑志敏;丁光伟
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810447365.7
公开号：	CN108414546A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：	孙纪泉
分类号：	G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04
申请人地址：	100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
主权项：	1.一种透射检查设备，包括两个检查通道以及设置在所述两个检查通道之间的双扇束X光机，其特征在于，所述双扇束X光机被构造成产生相互独立的两个X射线扇形束，将一个X射线扇形束向一个检查通道内发射，并且将另一个X射线扇形束向另一个检查通道内发射，以便分别对所述两个检查通道内的被检目标进行透射扫描；并且所述两个X射线扇形束的张角中心线形成一夹角，使得所述两个检查通道内的透射扫描互不干扰。
所属类别：	发明专利