专利名称: |
透射检查设备 |
摘要: |
本实用新型公开一种透射检查设备,该透射检查设备包括两个检查通道以及设置在两个检查通道之间的双扇束X光机。双扇束X光机被构造成产生相互独立的两个X射线扇形束,将一个X射线扇形束向一个检查通道内发射,并且将另一个X射线扇形束向另一个检查通道内发射,以便分别对两个检查通道内的被检目标进行透射扫描。两个X射线扇形束的张角中心线形成一夹角,使得两个检查通道内的透射扫描互不干扰。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
同方威视技术股份有限公司 |
发明人: |
陈志强;吴万龙;丁富华;桑斌;郑志敏;丁光伟 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201820696359.0 |
公开号: |
CN208459303U |
代理机构: |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人: |
孙纪泉 |
分类号: |
G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
主权项: |
1.一种透射检查设备,包括两个检查通道以及设置在所述两个检查通道之间的双扇束X光机,其特征在于,所述双扇束X光机被构造成产生相互独立的两个X射线扇形束,将一个X射线扇形束向一个检查通道内发射,并且将另一个X射线扇形束向另一个检查通道内发射,以便分别对所述两个检查通道内的被检目标进行透射扫描;并且所述两个X射线扇形束的张角中心线形成一夹角,使得所述两个检查通道内的透射扫描互不干扰。 |
所属类别: |
实用新型 |