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原文传递 感测用基底和制造感测用基底的方法
专利名称: 感测用基底和制造感测用基底的方法
摘要: 公开了一种感测用基底,制造感测用基底的方法。感测用基底包括:支撑层;多个金属纳米微粒簇,布置在所述支撑层上;以及多个穿孔,布置在所述多个金属纳米微粒簇之间。所述多个金属纳米微粒簇各自包括以三维结构堆叠的多个金属纳米微粒。所述多个穿孔中的每一个中传送入射光。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 韩国;KR
申请人: 三星电子株式会社;加利福尼亚州技术学院
发明人: 梁大钟;赵显俊;尹永竣;朱爀
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810521807.8
公开号: CN108931515A
代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人: 范心田
分类号: G01N21/65(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I;G;B;G01;B81;G01N;B81C;G01N21;B81C1;G01N21/65;B81C1/00
申请人地址: 韩国京畿道
主权项: 1.一种感测用基底,包括:支撑层;多个金属纳米微粒簇,布置在所述支撑层上,所述多个金属纳米微粒簇中的每一个包括以三维结构堆叠的多个导电金属纳米微粒;以及多个穿孔,布置在所述多个金属纳米微粒簇之间,其中所述多个穿孔中的每一个中传送入射光。
所属类别: 发明专利
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