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原文传递 X射线光学装置

专利名称：	X射线光学装置
摘要：	提供了一种在X射线分析系统中使用的X射线光学装置，其包括：发射X射线的X射线源，X射线光学器件，将由X射线源产生的X射线成像到待分析的样品上；以及光束阻挡单元，布置为选择性地阻挡由X射线光学器件输出的X射线光束的至少一部分。光束阻挡单元包括旋转轴和光束阻挡元件，旋转轴能够围绕其轴线旋转并相对于由X射线光学器件输出的X射线光束侧向偏移地布置，光束阻挡元件偏心地安装在旋转轴上，当光束阻挡元件围绕旋转轴轴线偏心地旋转时，光束阻挡元件能够移动到不同的光束重叠位置中以阻挡输出的X射线光束的相应部分。还提供了一种用于分析结晶或粉末样品的X射线分析系统，包括上述X射线光学装置、样品台和X射线探测器。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	株式会社理学
发明人：	达米安·库查茨克
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810066919.9
公开号：	CN108459036A
代理机构：	北京聿宏知识产权代理有限公司 11372
代理人：	吴大建;陈伟
分类号：	G01N23/20008(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/20008
申请人地址：	日本东京都
主权项：	1.一种X射线光学装置(110、110a)，包括：X射线源(1100)，其构造成发射X射线；X射线光学器件(1200)，其构造成将由所述X射线源(1100)生成的X射线光束(240)成像到待分析的样品(300)上；以及光束阻挡单元(1300)，其布置为选择性地阻挡由所述X射线光学器件(1200)输出的所述X射线光束(240)的至少一部分；光束阻挡单元(1300)包括旋转轴(1310)和光束阻挡元件(1320)，其中，所述旋转轴(1310)能够围绕其轴线(1312)旋转并相对于由所述X射线光学器件(1200)输出的所述X射线光束(240)侧向偏移地布置，并且其中，所述光束阻挡元件(1320)偏心地安装在所述旋转轴(1310)上，以便当所述光束阻挡元件(1320)围绕旋转轴线(1312)偏心地旋转时，所述光束阻挡元件(1320)能够移动到不同的光束重叠位置中以阻挡相应的光束(240)部分。
所属类别：	发明专利