专利名称: | 一种X射线小角散射与X射线成像联用的光学系统 |
摘要: | 本发明提供一种X射线小角散射与X射线成像联用的光学系统,包括:真空腔;布置于真空腔内的束流阻挡器,包括:依次叠置的二极管、闪烁体、第一透镜组和反射棱镜;布置于真空腔外的X射线小角散射探测器;沿与X射线入射方向垂直的方向安装的X射线成像机构,包括:第二透镜组和X射线成像探测器,以及一维调焦电机;以及计算机;其中,X射线照射到样品,发生小角散射后的X射线通过X射线小角散射探测器采集,穿过样品的直通X射线经过束流阻挡器转换为可见光并被90度折射后在X射线成像探测器上成像,从而实现X射线小角散射和X射线成像的同时测量。根据本发明,提供了一种可实现对X射线小角散射和X射线成像同时检测的光学系统。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 上海;31 |
申请人: | 中国科学院上海应用物理研究所 |
发明人: | 边风刚;洪春霞;周平;王玉柱 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2019-09-02T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-11-29T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201910830779.2 |
公开号: | CN110514682A |
代理机构: | 上海智信专利代理有限公司 |
代理人: | 余永莉 |
分类号: | G01N23/201(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: | 201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号 |
所属类别: | 发明专利 |