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原文传递 一种X射线小角散射与X射线成像联用的光学系统
专利名称: 一种X射线小角散射与X射线成像联用的光学系统
摘要: 本发明提供一种X射线小角散射与X射线成像联用的光学系统,包括:真空腔;布置于真空腔内的束流阻挡器,包括:依次叠置的二极管、闪烁体、第一透镜组和反射棱镜;布置于真空腔外的X射线小角散射探测器;沿与X射线入射方向垂直的方向安装的X射线成像机构,包括:第二透镜组和X射线成像探测器,以及一维调焦电机;以及计算机;其中,X射线照射到样品,发生小角散射后的X射线通过X射线小角散射探测器采集,穿过样品的直通X射线经过束流阻挡器转换为可见光并被90度折射后在X射线成像探测器上成像,从而实现X射线小角散射和X射线成像的同时测量。根据本发明,提供了一种可实现对X射线小角散射和X射线成像同时检测的光学系统。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 上海;31
申请人: 中国科学院上海应用物理研究所
发明人: 边风刚;洪春霞;周平;王玉柱
专利状态: 有效
申请日期: 2019-09-02T00:00:00+0800
发布日期: 2019-11-29T00:00:00+0800
申请号: CN201910830779.2
公开号: CN110514682A
代理机构: 上海智信专利代理有限公司
代理人: 余永莉
分类号: G01N23/201(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址: 201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号
所属类别: 发明专利
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