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一种测定稀土矿石中多个稀土元素的方法
| 专利名称： | 一种测定稀土矿石中多个稀土元素的方法 |
| 摘要： | 本发明属于分析测试领域，公开了一种测定稀土矿石中多个稀土元素的方法，测定方法包括样片的制备、标准曲线的建立、样品测试；按照建立的方法测定样品，选取多个稀土元素各自的测量时间、测量条件段、二次靶以及选用的分析线。本发明利用了能量色散XRF在重元素测定方法的优势；采用简单的粉末压片来制备样品；建立的方法简单、快速、经济；流程短，无需溶矿和富集，适合稀土矿石中多元素的快速分析，省去了ICP‑MS及其它光谱测量所需的溶矿过程，减小了对环境的污染；通过对两个实际稀土矿石样品的测定，结果与电感耦合等离子体质谱法基本吻合；方法精密度在15％以内。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 中国地质调查局西安地质调查中心 |
| 发明人： | 程秀花;黎卫亮;王烨;曹珊 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810002262.X |
| 公开号： | CN108362723A |
| 代理机构： | 西安长和专利代理有限公司 61227 |
| 代理人： | 黄伟洪 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
| 申请人地址： | 710054 陕西省西安市碑林区友谊东路166号 |
| 主权项： | 1.一种测定稀土矿石中多个稀土元素的方法，其特征在于，所述测定稀土矿石中多个稀土元素的方法采用简单的粉末压片来制备样品，无需加酸溶矿和富集；同时以能量色散X荧光光谱仪为依托，通过二次靶的选择、谱线选择、以及谱线之间的校正建立一个稀土元素的分析方法。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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