专利名称: |
检查系统的计算成为检查对象外的区域的装置及方法 |
摘要: |
本发明提供一种检查系统的计算成为检查对象外的区域的装置及方法,能够容易地特定工件的被检查面以外的区域。该装置具备:获取工件的绘图数据的绘图获取部;接受绘图数据中工件的被检查面的指定的指定接受部;在将工件和拍摄部定位在被指定的被检查面的至少一部分进入拍摄部的视场的拍摄位置时的该拍摄部的视场内的图像中,将被检查面以外的区域作为非检查区域来进行计算的非检查区域计算部。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
发那科株式会社 |
发明人: |
吉田顺一郎;藁科文和 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810225234.4 |
公开号: |
CN108627515A |
代理机构: |
北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
代理人: |
丁文蕴;李平 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88 |
申请人地址: |
日本山梨县 |
主权项: |
1.一种检查系统的计算成为检查对象外的区域的装置,该检查系统具有拍摄工件的拍摄部以及使上述工件或者上述拍摄部移动而将该工件和该拍摄部相互定位的移动机构,并检查工件表面,上述装置的特征在于,具备:绘图获取部,其获取上述工件的绘图数据;指定接受部,其接受上述绘图数据中上述工件的被检查面的指定;以及非检查区域计算部,其在将上述工件和上述拍摄部定位到被指定的上述被检查面的至少一部分进入上述拍摄部的视场的拍摄位置时的该拍摄部的视场内的图像中,将上述被检查面以外的区域作为非检查区域来进行计算。 |
所属类别: |
发明专利 |