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原文传递检查装置、检查单元及检查方法

专利名称：	检查装置、检查单元及检查方法
摘要：	本发明提供一种用于检查由复合材料形成且具有主面(1a)和交叉面的复合材料部件(1)的检查装置(10)。检查装置(10)具备本体部(14)、与本体部(14)结合且与主面(1a)接触的超声波探针(15)、以沿第一方向(Z)可移动的方式与本体部(14)结合的光传感器部(16)、处理装置。超声波探针(15)构成为，向复合材料部件(1)的主面(1a)入射超声波且接收反射波。光传感器部(16)构成为，沿与第一方向(Z)垂直的第二方向(X)出射传感器光且接收反射光。处理装置构成为输出基于反射波及反射光得到的测定结果。这样，在假定沿超声波的入射方向并排有多个缺陷的情况下，检测复合材料部件的缺陷。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	三菱重工业株式会社
发明人：	家永裕文;丸小庆介
专利状态：	有效
申请日期：	2017-11-13T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-03T00:00:00+0800
申请号：	CN201780049840.9
公开号：	CN109716124A
代理机构：	北京市柳沈律师事务所
代理人：	朴渊
分类号：	G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	日本东京都
主权项：	1.一种检查装置，用于检查由复合材料形成且具有主面和与所述主面交叉的交叉面的复合材料部件，其特征在于，具备：本体部；超声波探针，与所述本体部结合，且与所述主面接触；光传感器部，以沿第一方向可移动的方式与所述本体部结合；处理装置，所述超声波探针构成为，向所述复合材料部件的所述主面射入超声波，并且，接收所述超声波被所述复合材料部件反射而生成的反射波，所述光传感器部构成为，向与所述第一方向垂直的第二方向射出传感器光，并且，接收所述传感器光在所述交叉面反射而生成的反射光，所述处理装置构成为，输出基于所述反射波及所述反射光而得到的测定结果。 2.如权利要求1所述的检查装置，其特征在于，还具备使所述光传感器部沿所述第一方向移动的促动器，通过所述促动器使所述光传感器部沿所述第一方向移动的同时，进行所述传感器光的射出及所述反射光的接收。 3.如权利要求1所述的检查装置，其特征在于，所述超声波探针以能够沿与所述第一方向垂直的第三方向移动的方式与所述本体部结合。 4.如权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其特征在于，所述光传感器部具备：光传感器，射出所述传感器光，接收所述反射光，生成与所述反射光对应的输出信号；筒部件，具有圆筒面，所述圆筒面具有与所述第一方向平行的中心轴，所述光传感器收容于所述筒部件，所述筒部件沿所述第一方向可移动地与所述本体部连结。 5.一种检查单元，用于检查具有主面和与所述主面交叉的交叉面的由复合材料形成的复合材料部件，其特征在于，具备：本体部；超声波探针，与所述本体部结合，且与所述主面接触；光传感器部，以沿第一方向可移动的方式与所述本体部结合，所述超声波探针构成为，向所述复合材料的所述主面射入超声波，接收所述超声波被所述复合材料反射而生成的反射波，输出与所述反射波对应的第一输出信号，所述光传感器部构成为，向与所述第一方向垂直的第二方向射出传感器光，接收所述传感器光在所述交叉面反射而生成的反射光，输出与所述反射光对应的第二输出信号。 6.一种检查方法，检查具有主面和与所述主面交叉的交叉面的复合材料部件，其特征在于，包括： (A)使超声波探针与所述主面接触，从所述超声波探针向所述主面射入超声波的步骤； (B)接收所述超声波被所述复合材料部件反射而生成的反射波的步骤； (C)使光传感器在沿着所述交叉面的第一方向上移动的同时，向与所述第一方向垂直的第二方向射出传感器光的步骤； (D)接收所述传感器光在所述交叉面反射而生成的反射光的步骤； (E)输出基于所述反射波及所述反射光而得到的测定结果的步骤。 7.如权利要求6所述的检查方法，其特征在于，所述交叉面是通过开孔加工形成于所述复合材料部件的贯通孔的侧壁面。 8.如权利要求7所述的检查方法，其特征在于，所述光传感器被收容于具有圆筒面的筒部件，所述圆筒面具有与所述第一方向平行的中心轴，所述圆筒面具有与所述贯通孔的直径对应的直径。 9.如权利要求8所述的检查方法，其特征在于，变更所述第二方向的朝向重复进行所述(A)～(E)步骤。
所属类别：	发明专利