专利名称: |
基于机器视觉的别针徽章瑕疵检测系统 |
摘要: |
本实用新型提供了基于机器视觉的别针徽章瑕疵检测系统,包括搬运模块、检测模块和剔除模块,搬运模块包括传送带和用于控制传送带运行的PLC控制器;检测模块包括图像处理单元、设置在传送带上的暗箱结构和位于暗箱结构内的工业摄像机,暗箱结构设有入口和出口,传送带的中间段贯穿暗箱结构的入口和出口,图像处理单元分别与工业摄像机、PLC控制器连接;剔除模块位于暗箱结构的出口旁,与PLC控制器连接,用于将检测模块所识别的劣质别针徽章推出传送带。本实用新型采用工业摄像机来识别那些贴纸图案严重不一致的徽章,并剔除掉劣质的徽章,仅保留优良的徽章,实现了快速分辨优劣徽章并且将劣质徽章进行剔除的目标。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
广州大学 |
发明人: |
黄文恺;张铭凯;杨康耀;陈广新;吴羽 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201820425126.7 |
公开号: |
CN207992089U |
代理机构: |
广州市华学知识产权代理有限公司 44245 |
代理人: |
裘晖;林梅繁 |
分类号: |
G01N21/956(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/956 |
申请人地址: |
510006 广东省广州市番禺区广州大学城外环西路230号 |
主权项: |
1.基于机器视觉的别针徽章瑕疵检测系统,其特征在于,包括搬运模块、检测模块和剔除模块,搬运模块包括传送带和用于控制传送带运行的PLC控制器;检测模块包括图像处理单元、设置在传送带上的暗箱结构和位于暗箱结构内的工业摄像机,暗箱结构设有入口和出口,传送带的中间段贯穿暗箱结构的入口和出口,图像处理单元分别与工业摄像机、PLC控制器连接;剔除模块位于暗箱结构的出口旁,与PLC控制器连接,用于将检测模块所识别的劣质别针徽章推出传送带。 |
所属类别: |
实用新型 |