专利名称: |
一种纺织品瑕疵检测方法 |
摘要: |
一种纺织品瑕疵检测方法,包括以下步骤:输入待检测的含有周期变化图案的纺织品图像作为待测样本图像;确定基本重复单元的模板大小;根据所确定的模板大小对待测样本图像进行裁剪和分块,建立双层MRF模型中的顶层约束场;对待测样本图像进行双线性插值,扩展后的图像作为双层MRF模型中的底层数据场;计算每一图像块的图像能量;通过EM算法迭代求解双层MRF模型,确定使所有图像能量达到稳定的图像标记;根据最终的图像标记场确定瑕疵位置,输出最终的检测结果。通过求取最小重复单元大小对样本图像进行分块,提高了检测速率,同时改进传统的MRF模型方法,使得本发明具有更好的检测精度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
常州信息职业技术学院 |
发明人: |
常兴治;朱川;胡丽英;刘威;梁久祯;侯振杰;崔瑶瑶 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810517728.X |
公开号: |
CN108760751A |
代理机构: |
北京中济纬天专利代理有限公司 11429 |
代理人: |
张军 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88;G01N21/956 |
申请人地址: |
213000 江苏省常州市大学城内鸣新中路2号 |
主权项: |
1.一种纺织品瑕疵检测方法,其特征在于,包括以下步骤:1)输入待检测的含有周期变化图案的纺织品图像作为待测样本图像;2)确定基本重复单元的模板大小;3)根据所确定的模板大小对待测样本图像进行裁剪和分块,建立双层MRF模型中的顶层约束场;4)对待测样本图像进行双线性插值,扩展后的图像作为双层MRF模型中的底层数据场;5)计算每一图像块的图像能量;6)通过EM算法迭代求解双层MRF模型,确定使所有图像能量达到稳定的图像标记;7)根据最终的图像标记场确定瑕疵位置,输出最终的检测结果。 |
所属类别: |
发明专利 |