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一种热控涂层损耗测试装置及方法
| 专利名称： | 一种热控涂层损耗测试装置及方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种热控涂层损耗测试装置及方法，其中，测试装置包括一底板以及设置在底板上的N个椭球镜、(N‑1)个标准金属片、(N‑1)个热控涂层试片、馈源喇叭，所述(N‑1)个标准金属片和(N‑1)个热控涂层试片可替换设置在所述底板上，所述N个椭球镜与所述(N‑1)个标准金属片/热控涂层试片级联，所述装置入口处分别放置冷辐射信号和热辐射信号，所述冷辐射信号和热辐射信号依次经过交替的椭球镜、标准金属片/热控涂层试片进入馈源喇叭，所述馈源喇叭与接收组件连接，通过所述接收组件输出值计算热控涂层试片的微波损耗。本发明通过将多个热控涂层试片级联提高热控涂层损耗的测试精度，解决了一般损耗测试装置测试精度低的问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海航天测控通信研究所 |
| 发明人： | 李向芹;谢振超;周辉;刘兰波 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810507518.2 |
| 公开号： | CN108760770A |
| 代理机构： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 |
| 代理人： | 胡晶 |
| 分类号： | G01N22/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N22;G01N22/00 |
| 申请人地址： | 200080 上海市虹口区新港街道天宝路881号 |
| 主权项： | 1.一种热控涂层损耗测试装置，其特征在于，包括一底板以及设置在底板上的N个椭球镜、(N‑1)个标准金属片、(N‑1)个热控涂层试片、馈源喇叭，所述(N‑1)个标准金属片和(N‑1)个热控涂层试片可替换设置在所述底板上，所述N个椭球镜与所述(N‑1)个标准金属片/热控涂层试片级联，所述装置入口处分别放置冷辐射信号和热辐射信号，所述冷辐射信号和热辐射信号依次经过交替的椭球镜、标准金属片/热控涂层试片进入馈源喇叭，所述馈源喇叭与接收组件连接，通过所述接收组件输出值计算热控涂层试片的微波损耗。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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