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一种薄膜热控涂层近紫外辐射下性能退化预测方法
| 专利名称： | 一种薄膜热控涂层近紫外辐射下性能退化预测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种薄膜热控涂层近紫外辐射下性能退化预测方法，在掌握材料近紫外辐射退化机理的情况下，研究材料在近紫外辐射下性能退化的规律，建立性能退化模型，以地面较短试验周期的结果为基础，外推空间长期近紫外辐照下材料性能的退化结果；薄膜热控涂层近紫外辐射下性能退化预测方法可以以较短周期的地面模拟试验预示长寿命航天器用薄膜热控涂层在近紫外辐射下的性能退化，提高试验效率，节约试验成本，为薄膜热控涂层的可靠性设计提供技术支撑。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 甘肃;62 |
| 申请人： | 兰州空间技术物理研究所 |
| 发明人： | 杨生胜;田海;薛华;把得东;冯展祖 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811141609.5 |
| 公开号： | CN109490179A |
| 代理机构： | 北京理工大学专利中心 11120 |
| 代理人： | 李微微;仇蕾安 |
| 分类号： | G01N17/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N17 |
| 申请人地址： | 730000 甘肃省兰州市城关区渭源路97号 |
| 主权项： | 1.一种薄膜热控涂层近紫外辐射下性能退化预测方法，其特征在于，包括如下步骤：对薄膜热控涂层开展紫外辐射试验，获取不同辐照剂量t下薄膜热控涂层的太阳吸收比α；将试验获得的多组辐照剂量t与对应的太阳吸收比α代入到性能退化预测模型：α＝1‑exp[A+Bexp(‑t/τ)]；其中τ为时间常量；然后拟合得到预测模型中参数A和B的值，由此得到性能退化预测模型的表达式，由此对薄膜热控涂层近紫外辐射下性能退化进行预测。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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