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原文传递 CT检查系统

专利名称：	CT检查系统
摘要：	本实用新型涉及CT检测技术领域，特别涉及一种CT检查系统。本实用新型所提供的CT检查系统，包括扫描装置和成像装置，其中：扫描装置具有放射源装置和探测装置并在对待检物进行扫描的至少部分过程中进行非匀速转动；成像装置基于有效探测数据生成CT图像，有效探测数据为探测装置在每转动预设角度时的数据。在本实用新型中，CT检查系统的成像装置基于探测装置在每转动预设角度时的数据生成CT图像，相对于传统的图像采集方案，可以有效减少图像形变，提高检测结果的准确性。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	清华大学;同方威视技术股份有限公司
发明人：	倪秀琳;李荐民;谭海田;李玉兰;喻卫丰;李元景;周合军;陈志强;宗春光;张丽
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201721867131.5
公开号：	CN207816865U
代理机构：	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人：	马艳苗
分类号：	G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04
申请人地址：	100084 北京市海淀区清华园
主权项：	1.一种CT检查系统，其特征在于，包括扫描装置和成像装置，其中：所述扫描装置具有放射源装置(1)和探测装置(2)并在对待检物(a)进行扫描的至少部分过程中进行非匀速转动；所述成像装置基于有效探测数据生成CT图像，所述有效探测数据为所述探测装置(2)在每转动预设角度时所获取的数据。
所属类别：	实用新型