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X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法、氢氧化铝及其应用
| 专利名称： | X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法、氢氧化铝及其应用 |
| 摘要： | 本发明属于化工分析处理技术领域，涉及一种X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法、氢氧化铝及其应用。本发明的X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法，包括以下步骤：研磨；粉末压片；采用X射线荧光光谱法，测定样片中各成分的发射强度，利用已建立的各成分的工作曲线，进行待测氢氧化铝样片中Al2O3、Fe2O3、SiO2和Na2O含量的分析。本发明方法操作简单，分析速度快，可同时分析氢氧化铝中Al2O3、Fe2O3、SiO2、Na2O四项成分，通过确认该方法具有科学性、先进性、适用性、分析时间短、准确度高、重复性好、无污染等特点；重复性和再现性均优于国家标准的氢氧化铝中化学成分的测定方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 中国南玻集团股份有限公司;河北南玻玻璃有限公司 |
| 发明人： | 李欣;庞振辉;丁天龙;贺立侠;吴宏;王长军 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810604889.2 |
| 公开号： | CN108802084A |
| 代理机构： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 |
| 代理人： | 李进 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N1;G01N23/223;G01N1/28 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市招商街道工业六路一号南玻大厦 |
| 主权项： | 1.一种X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：研磨；粉末压片；采用X射线荧光光谱法，测定样片中各成分的发射强度，利用已建立的各成分的工作曲线，进行待测氢氧化铝样片中Al2O3、Fe2O3、SiO2和Na2O含量的分析。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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