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一种应用能量色散X射线荧光分析测定石英矿中硅含量的方法
| 专利名称： | 一种应用能量色散X射线荧光分析测定石英矿中硅含量的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种应用能量色散X射线荧光分析法测量石英矿中硅元素含量的方法，属于分析检测技术领域，主要解决现有技术在直接检测硅元素激发效率低、结果精度差及灵敏度不高的问题。该方法首先对市面上石英矿样品进行预处理及标准样品、待测样品的制备，用能量色散X射线荧光光谱仪对试样中的锌元素进行测量，探测到锌元素的特征峰面积，代入定标曲线，得到试样中锌元素的百分含量。再根据正硅酸锌中锌和硅的化学数量关系，计算得到石英矿中硅元素的含量。本发明通过间接的测量方法实现了对石英矿中硅含量的测量，具有准确、便捷、经济、易操作的特点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 辽宁;21 |
| 申请人： | 沈阳师范大学 |
| 发明人： | 邓玉福;马跃;李继;刘伊初;李晟栋 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811338736.4 |
| 公开号： | CN109298003A |
| 代理机构： | 沈阳维特专利商标事务所(普通合伙) 21229 |
| 代理人： | 甄玉荃 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 110034 辽宁省沈阳市黄河北大街253号（道义开发区） |
| 主权项： | 1.一种应用能量色散X射线荧光分析测定石英矿中硅含量的方法，其特征在于：该方法首先对市面上石英矿样品进行预处理及标准样品、待测样品的制备，用能量色散X射线荧光光谱仪对试样中的锌元素进行测量，探测到锌元素的特征峰面积，代入定标曲线，得到试样中锌元素的百分含量；再根据正硅酸锌中锌和硅的化学数量关系，计算得到石英矿中硅元素的含量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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